Test de très haute qualité et diagnostic de circuits intégrés à l'échelle nanométrique

高级质量测试和集成电路诊断与纳米技术

• 批准号: 153106-2008
• 负责人: Thibeault, Claude
• 金额: $ 1.92万
• 依托单位: École de technologie supérieure
• 依托单位国家: 加拿大
• 项目类别: Discovery Grants Program - Individual
• 财政年份: 2012
• 资助国家: 加拿大
• 起止时间: 2012-01-01 至 2013-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=503522
• 关键词: Test; de; tr; haute; qualit

Cette proposition de recherche s'intéresse principalement aux défis que représentent le test et le diagnostic de haute qualité des CI à l'échelle nanométrique. L'intégration à cette échelle amène de nouveaux défis à tous les niveaux, y compris le test et le diagnostic, qui nous obligent à réévaluer et revoir les techniques existantes afin de maintenir la qualité actuelle. Pour certaines applications plus critiques (ex. l'automobile et le biomédical), le niveau de qualité exigé est davantage élevé. C'est la raison de notre intérêt pour le test et le diagnostic de haute qualité, ce qui nécessite davantage d'optimisation afin de garder les coûts du test/diagnostic à des niveaux acceptables. De plus, la tendance actuelle au niveau du coût de la fabrication et du taux de succès de la première tentative d'intégration (qui est inférieure à 40% selon [3]) devrait éventuellement rendre plus populaire l'utilisation de plateformes génériques contenant des matrices de logiques programmables, telles celles que l'on retrouve dans les circuits de type FPGA. Ceci explique notre intérêt, à moyen et long terme, pour ce genre de circuits. La présente demande contient deux volets :

这一研究建议主要是为了代表纳米化学人工智能的高质量测试和诊断。L'intégration à cette échelle amène de nouveaux défis à图斯les niveaux，y compris le test et le diagnosis，qui nous obligent à révaluer et revoir les techniques existantes afin maintenir la qualité actuelle. Pour certaines applications plus critiques（ex. l'automobile et le biomedical），le niveau de qualité exigé est davantage élevé. C'est la raison de notre intérêt pour le test et le diagnosis de haute qualité，ce qui névantage d'optimization afin de garder les costumts du test/diagnosis à des niveaux acceptables.此外，Au niveAu nive-cut de la fabrication et du taux de succès de la première tentative d'intégration（qui est inférixà 40% selon [3]）devrait éventuellement rendre plus popularaire l'utilization de platformes génériques contant des matrices de logiques programmables，telles que l'on retrouve dans les circuits de FPGA.塞西解释了我们的兴趣，一个长期的泰尔梅，为这种类型的电路。La presente demande contient deux volets：