Développement d'outils de simulation pour la qualification fiable de systèmes micro / nanoélectroniques en boitier de circuit intégré

La loi de摩尔，et plus encore，est en train de mener la microélectronique vers un niveau inconnu de complexité，caractérisé par une aperisation en modes multi-étons（à la fois du point de vue géométrique et temporel），multi-matériaux/interfaces，multifonctionnalité，multi-technologies，et multi-dommages/defaillances.这些技术发展趋势与商业发展趋势相结合，说明概念的复杂性、概念边界的减少、可能性和后果的增加，以及质量和可靠性要求方面的困难。 实际上，工业界不应为评估可行性的有效性而适当地配置资源。Ceux utilisés reposent sur l'exérience et l'approche par tâtonnement sur une base empirique，phénoménologique et Au cas-par-cas，engendrant des délais importants et des coffets élevés. 为了响应微电子的需求，必须开发一种新的方法来评估基础的可靠性。微/纳米技术领域的科学进步越来越多，但不允许在没有创新的情况下实施一项关于我们不放弃通过完整评估链的可行性的计划。 目前研究计划的目标是，在微型电子产品的可靠性方面，通过对制造、原型制造和鉴定试验的主要投资Au niveAu，了解基础知识、方法和实践，使工业生产者能够进行预先、精确、全面和优化。 我们的研究目标是发展一种虚拟化的方法，包括一种可预测的故障和故障，甚至是一种现代化技术的改进Au点，一种为完成虚拟化资格考试而进行的反思性学习。

La loi de Moore, et plus encore, est en train de mener la microélectronique vers un niveau inconnu de complexité, caractérisé par une miniaturisation en modes multi-échelles (à la fois du point de vue géométrique et temporel), multi-matériaux/interfaces, multifonctionnalité, multi-technologies, et multi-dommages/défaillances. Ces tendances de développement technologique, en combinaison avec les tendances commerciales, aboutissent à une complexité de conception accrue, une réduction considérable des marges de conception, une augmentation des possibilités et conséquences de défaillances, ainsi que des difficultés accrues à répondre aux exigences de qualité et de fiabilité requises. Actuellement, les industriels n'ont pas à leur disposition d'outils appropriés pour évaluer efficacement la fiabilité. Ceux utilisés reposent sur l'expérience et l'approche par tâtonnement sur une base empirique, phénoménologique et au cas-par-cas, engendrant des délais importants et des coûts élevés. Pour répondre aux besoins de la microélectronique, le développement d'une nouvelle approche d'évaluation de la fiabilité fondée sur les connaissances est indispensable. Les progrès scientifiques récents enregistrés dans le domaine des micro/nanotechnologies, ne permettent malheureusement pas le développement d'un plan d'affaires réussi sans percées innovatrices sur la façon dont nous abordons la fiabilité à travers la chaine complète d'évaluation. L'objectif de la présente programme de recherche est de développer des connaissances fondamentales, des méthodologies et pratiques de pointe qui permettront aux industriels de prédire, caractériser, concevoir et optimiser en amont la fiabilité des produits microélectronique, afin d'éviter des investissements majeurs au niveau de la fabrication, prototypage et essais de qualification. Nos objectifs de recherche couvriront le développement d'une méthodologie de caractérisation virtuelle incluant une prédiction fiable des défaillances et dommages, de même que la mise au point d'une technique de modélisation, d'un ensemble de données références pour les essais ainsi que la mise en oeuvre finale des outils de qualification virtuelle.