Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX/EBSD-Analytik

“Der Schwerpenkt der arbeiten der arbeiten der Arbeitsgruppe liegt der Materialententung，basierend auf einem Verständnis der Zusammenhänge zwitchen Herstellung，MikroStrukut and Eigenschaften.这是一件非常重要的事情，因为这是一件非常重要的事情。从1992年开始，我们将为您提供服务，并在此基础上为您提供更多的服务。在10 nm的距离内，我们可以从纳米级的Mikrometerbereich angesiedelt sind and zunehmend Materimetterbereich，deren Primärartikkelgröüe im Nanomterterbereich and Deren Korngrön en in der Gröçenordnung von einigen 10 nm liegen中获取更多信息。AuüErdem soll das REM Mit einem kombinierten EDX/EBSD(电子背散射衍射)系统。从材料到材料的化学分析，以及从EBSD到Deektor die Bstimmung der Kornorientierungen erlabt。Bei der Wahl des EBSD-Systems wird ein Gerät MIT möglichst Hoher Auflöung angestret.

„Der Schwerpunkt der Arbeiten der Arbeitsgruppe liegt in der Materialentwicklung, basierend auf einem Verständnis der Zusammenhänge zwischen Herstellung, MikroStruktur und Eigenschaften. Aufgrund des großen Umfangs der anfallenden Arbeiten wird ein Rasterelektronenmikroskop im Rahmen der Grundausstattung benötigt. Das derzeit vorhandene Mikroskop, welches 1992 beschafft wurde, wird vermutlich schon sehr bald nicht mehr reparabel sein, so dass die Beschaffung eines Ersatzes für das vorhandene Gerät auf der Basis des heutigen Standes der Technik zwingend erforderlich ist. Da die Mikrostrukturmerkmale im Nanometer- bis Mikrometerbereich angesiedelt sind und zunehmend Materialien untersucht werden, deren Primärpartikelgröße im Nanometerbereich und deren Korngrößen in der Größenordnung von einigen 10 nm liegen, ist ein REM mit hoher Auflösung notwendig. Außerdem soll das REM mit einem kombinierten EDX/EBSD (Electron Backscattered Diffraction)-System ausgestattet sein. Die EDX-Analyse dient zur ortsaufgelösten Analyse der chemischen Zusammensetzung der Materialien; während der EBSD-Detektor die Bestimmung der Kornorientierungen erlaubt. Bei der Wahl des EBSD-Systems wird ein Gerät mit möglichst hoher Auflösung angestrebt.“