Bestimmung von Diffusionslängen im Sub-Nanometer-Bereich mit Neutronenreflektometrie an Isotopen-Multilagen

在Festkörpern，De eine Reihe für Technische Anwendungen wichtige Materialeigenschaften steuert的材料运输过程中，元素的扩散是自扩散的。MIT den Momentan eablierten Methoden(放射性示踪器，Sekundärionen-MassenSpektrometrie，KernMagitische Resonanz，Quasieltische Netrionenstreuung USW.)1×10~(-9)双阻挡层1×10~(-23)m~2/S北扩散层10 nm。现代、亚稳定和纳米材料体系、材料体系和材料扩散的实验，以及亚纳米-贝雷希理论的解释。中性粒和中性粒是一种等开多元的错误。1 nm和Diffusionskoeffizienten im Bereich von 1 x 10-21 bis 1 x 10-26 m2/S麻省理工学院柴油方法Verlässlich nachzuweisen。对纳米晶SiCXNY-Verbindungen进行了研究，得到了稳定的纳米SiCXNY纳米晶。

Die Diffusion der konstituierenden Elemente (Selbstdiffusion) ist ein grundlegender Materietransportprozess in Festkörpern, der eine Reihe für technische Anwendungen wichtige Materialeigenschaften steuert. Mit den momentan etablierten Methoden (radioaktive Tracer, Sekundärionen-Massenspektrometrie, kernmagnetische Resonanz, quasielastische Neutronenstreuung usw.) ist es möglich, Diffusionskoeffizienten in einem Bereich von 1 x 10-9 bis hinunter zu etwa 1 x 10-23 m2/s bei Diffusionslängen > 10 nm zu bestimmen. Viele moderne, insbesondere metastabile und nanoskalige, Materialsysteme erfordern jedoch den experimentellen Nachweis von Diffusionslängen im Sub-Nanometer-Bereich zur Interpretation von kinetischen Prozessen und Materialeigenschaften. Dieses Ziel soll mittels Neutronenreflektometrie an Isotopen- Multilagen erreicht werden. Im Rahmen dieses Projekts soll demonstriert werden, dass es möglich ist Diffusionslängen < 1 nm und Diffusionskoeffizienten im Bereich von 1 x 10-21 bis 1 x 10-26 m2/s mit dieser Methode verlässlich nachzuweisen. Als Modellsysteme sollen amorphe und nanokristalline SiCXNY-Verbindungen verwendet werden, deren Stabilität von der atomaren Beweglichkeit der Konstituenten abhängt.