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Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX, EBSD und in situ Nanoindenter

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX, EBSD und in situ Nanoindenter
配备 EDX、EBSD 和原位纳米压痕仪的场发射扫描电子显微镜
批准号:
315588512
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2016
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2015-12-31 至 --

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
Rasterelektronenmikroskopie MIT Ihren verschiedenen Kontrastarten,der Elektronenrück streubeugung(EBSD),以及Elektronenrück streubeugung(EBSD),这是一种现代的Werkstoffwise感觉分析技术。他说:“我不知道怎么做才是最好的选择。”这是一种新的技术和技术,但不适用于国际贸易,也不适用于国际贸易,也不适用于国家和地区。Ein Schwerpenkt der Aufgaben ist die Aufnahme realer ebsd/edX-Maps,well che Grundlage für eine Mikrostruktra分析im Sinne einer Element-and Phasenvertiilung einschlieülich KristallitorientierungsInformation ist.Eine zuverlässige and züGigE Aufnahme Solcher Maps Wird Durch Einen Hohen Strahlstrom and Aufeinander hinsichtlich Effizienz abgstimter der edX-Detektoren Sichersterellt.在纳米压痕的过程中,我们进行了结构分析和机械特性分析。从现在开始,我不再需要时间和时间了。
英文摘要
Die Rasterelektronenmikroskopie mit ihren verschiedenen Kontrastarten, der energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD), ist eine der in der modernen Werkstoffwissenschaft unverzichtbaren Analysetechniken. Hinsichtlich seiner Ortsauflösung nimmt es eine sehr wichtige Zwischenstellung zwischen der optischen Mikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie ein. Das beantragte hochauflösende Feldemissionsrasterelektronenmikroskop soll innerhalb unterschiedlicher Forschungsprojekte einschließlich zweier Sonderforschungsbereiche, insbesondere zur Mikrostrukturanalyse von nichtoxidischen Hartstoffen, metallischen und keramischen Werkstoffen sowie von entsprechenden Kompositen unter Nutzung verschiedener Abbildungs- und Analysemodi einschließlich in situ Nanoindentation verwendet werden. Ein Schwerpunkt der Aufgaben ist die Aufnahme simultaner EBSD/EDX-Maps, welche Grundlage für eine Mikrostrukturanalyse im Sinne einer Element- und Phasenverteilung einschließlich Kristallitorientierungsinformation ist. Eine zuverlässige und zügige Aufnahme solcher Maps wird durch einen hohen Strahlstrom und aufeinander hinsichtlich Effizienz abgestimmter EBSD und EDX-Detektoren sichergestellt. Entsprechende Mikrostrukturanalyse ist auch Vorbedingung zur lokalen Analyse mechanischer Eigenschaften durch Nanoindentation. Entsprechende Gerätekapazität steht derzeit an der TU Bergakademie Freiberg nicht zur Verfügung.
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