Methoden zur Bewertung und Verbesserung der Zuverlässigkeit informationsverarbeitetender mikroelektronischer Hardware-Komponenten

... Die Hardware eingebetteter Systeme wird vermehrt und in naher Zukunft überwiegend als sogenannte“Systems-on-a-Chip”realisiert，bei denen drei wesentlichen Quellen von Systemausfällen zu berücksichtigen sind：- Entwurfsfehler，- im Produktionstest zu findende Fertigssfehler，- permanente，transiente oder UnderderderAusfälle im Betrieb.这是一个开始的开始。对两种不同的诊断方法的耐受性：1）对三种不同的诊断方法进行改进。该方法非常适合于所有的建筑物。2)自动化工程师von ausfallsicheren Schaltungen. Die bislang unter schedlichen，zum Teil widersprüchlichen Verfahren für den Entwurf verifizier barer Schaltungen testbar und selbsttestbare Schaltungen und fehlertoleranter und on-line testbar Schaltungen sollen zusammengeführt韦尔登.如此有效的Schaltungen的测试必须经过韦尔登。

...Die Hardware eingebetteter Systeme wird vermehrt und in naher Zukunft überwiegend als sogenannte "Systems-on-a-Chip" realisiert, bei denen drei wesentlichen Quellen von Systemausfällen zu berücksichtigen sind: - Entwurfsfehler, - im Produktionstest zu findende Fertigungsfehler, - permanente, transiente oder intermittierende Ausfälle im Betrieb. Um bereits zu Beginn des Entwurfs die Erkennung bzw. Tolerierung der erwähnten Fehler zu unterstützen, sollen auf zwei Gebieten Verfahren erarbeitet werden: 1) Entwicklung einer einheitlichen Methode zur Erkennung und Diagnose aller drei Fehlerarten. Die Methode muß auf allen Ebenen des Entwurfs anwendbar sein. 2) Automatischer Entwurf von ausfallsicheren Schaltungen. Die bislang unter schiedlichen, zum Teil widersprüchlichen Verfahren für den Entwurf verifizier barer Schaltungen testbarer und selbsttestbare Schaltungen und fehlertoleranter und on-line testbarer Schaltungen sollen zusammengeführt werden. Die Zuverlässigkeit der so entworfenen Schaltungen soll mit den in 1) entwickelten Verfahren verifiziert werden.