Mesoplasma lateral epitaxy for next generation giant electronics
Mesoplasma lateral epitaxy for next generation giant electronics
批准号:
20686049
负责人:
KAMBARA Makoto
金额:
$16.39万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
财政年份:
2008
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2008 至 2010
中文摘要
高速率低温外延的介观等离子体环境具有低电子温度和高离子密度的特点。原子氢也以高浓度在空间上均匀分布。纳米团簇,生长前体的介等离子体外延,不受氢分压的变化。这些使我们能够存款高质量的外延膜,而无需在沉积前对衬底进行特殊的预处理,这表明其对于大面积外延沉积的有利特性。
英文摘要
Mesoplasma environment for high rate and low temperature epitaxy was revealed to possess low electron temperature and high ion density characteristics. Atomic hydrogen is also distributed at high concentration uniformly spatially. Nanoclusters, growth precursors for mesoplasma epitaxy, are not affected by a change in the hydrogen partial pressure. These enable us to deposit high quality epitaxial films with no special pre-treatment for substrate prior to deposition, suggesting its advantageous characteristics for large area epitaxial deposition.
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High yield silicon deposition under mesoplasma condition for a next generation Siemens technology
下一代西门子技术的中质条件下的高产硅沉积
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[M.Kambara , T.Yoshida]
通讯作者:
T.Yoshida
A new route for high rate and low temperature epitaxy by cluster assisted mesoplasma CVD (Invited)
团簇辅助中间质CVD高速低温外延新途径(特邀)
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Kuriyama, R., Tanaka, Y., Akiyama, S., Sato, Y., M.Kambara,J.M.A.Diaz,T.Yoshida]
通讯作者:
M.Kambara,J.M.A.Diaz,T.Yoshida
Effect of substrate transfer on silicon epitaxy during mesoplasma CVD
介质CVD过程中衬底转移对硅外延的影响
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[K.Iwamoto, M.Yoshioka, J.M.A.Diaz, M.Kambara, T.Yoshida]
通讯作者:
T.Yoshida
プラズマスプレー技術展開
等离子喷涂技术开发
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Higashi, H, Tamura, K., 神原淳]
通讯作者:
神原淳
high rate and low temperature silicon deposition via mesoplasma CVDメゾプラズマCVDによる高品質シリゴン膜の低温高速堆積
通过中间等离子体 CVD 进行高速、低温硅沉积 通过中间等离子体 CVD 进行低温、高速沉积高质量硅薄膜
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[中村雅人, 片桐清文, 河本邦仁, 神原淳]
通讯作者:
神原淳
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