Automatische, Parameter-erhaltende Modellreduktion für mikrosystemtechnische Anwendungen

Häufig spielt die Simulation im Designprozess für Mikrosysteme努尔eine untergeordnete Rolle.这就意味着，如果一个复杂的微系统能够提供足够的能量和足够的韦尔登，那么实际上就会影响到一个韦尔登。Die gewöhnliche Modellordnungsreduktion erlaubt es，zeit- oder frequenzabhängige Berechnungen is zu beschunigen.模型的还原可以追溯到Nachteil，因为它只是模型变化的一部分，d.h.在物理模型中，它是一个几何变化或一个Umgebungsbedingungen的Veränderung，它有一个新的Reduktionschritt nach sich。Um dieses Problem zu lösen，ist es erforderlich，Modelle reduzierter Ordnung zu generieren，die zusätzliche Parameter beinhalten.这几个项目是一个整体，通过减少参数来调整顺序，并在微系统的设计过程中进行整合。我们解决了两个问题，一个是韦尔登，另一个是Krylovraum-Verfahren的插值，另一个是平衡的Abschneiden和Beiden Fällen的插值（合理），即插值韦尔登。新方法的验证必须有三种特殊的参数化微系统模型来描述韦尔登，它也需要一种视觉和视觉效果。

Häufig spielt die Simulation im Designprozess für Mikrosysteme nur eine untergeordnete Rolle. Dies liegt insbesondere daran, dass geeignete Werkzeuge fehlen, mit denen ein komplexes Mikrosystem in mehreren Energiedomänen kosten- und zeiteffizient berechnet werden kann, so dass in Realzeit äußere Einflüsse auf ein Mikrosystem untersucht werden können. Die gewöhnliche Modellordnungsreduktion erlaubt es, zeit- oder frequenzabhängige Berechnungen immens zu beschleunigen. Die reduzierten Modelle haben allerdings den Nachteil, dass sie nur wenige Möglichkeiten der Modellvariation zulassen, d.h. jede Änderung am physikalischen Modell, sei es eine geometrische Variation oder eine Veränderung der Umgebungsbedingungen, zieht einen neuen Reduktionsschritt nach sich. Um dieses Problem zu lösen, ist es erforderlich, Modelle reduzierter Ordnung zu generieren, die zusätzliche Parameter beinhalten. Das Ziel dieses Projektes ist es somit, Verfahren zur Parameter-erhaltenden Ordnungsreduktion zu entwickeln, und diese in den Designprozess von Mikrosystemen zu integrieren. Dabei sollen zwei Ansätze verfolgt werden, die einerseits auf Krylovraum-Verfahren, andererseits auf balanciertem Abschneiden beruhen und in beiden Fällen mit (rationaler) Interpolation gekoppelt werden. Zur Validierung der neuen Methoden sollen drei speziell ausgewählte parametrische Mikrosystemmodelle herangezogen werden, mit deren Hilfe dann auch ein Vergleich und eine Bewertung der Verfahren ermöglicht wird.