Dual-Beam Focused Ion Beam (FIB)

劳动技术部与先进材料工业集群工程(Exc 315)的高级材料工程(Exc 315)之间的关系。在这一过程中，高级材料的调色板调色板的调色板也不是很好。这是一件很重要的事情，因为它是一件非常重要的事情。这是一个双光束的FIB星体，用来分离透射电子显微镜--Proben dar and wird von der Arbeitsgruppe für ihre vitheritigen arbeiten dringend Benötigt。比斯朗与德国最大的区别是：(一)从中国分离到中国，(二)从中国分离出来，(三)从国家和地方分离出来，(三)从组织中分离出来，(三)从组织中分离出来。他说：“我不知道你的名字是什么。”Verbleibende Nutzungszeiten Sollen in der CENEM-Nutzereinrichtung eingesetzt is den.

„Die AG Elektronenmikroskopie betreibt am Department Werkstoffwissenschaften ein Labor mit drei Transmissionselektronenmikroskopen, darunter das im Rahmen des Exzellenzclusters Engineering of Advanced Materials (EXC 315) beschaffte aberrationskorrigierte Gerät. In ihrer Forschung nutzt die Arbeitsgruppe die breite Palette moderner TEM-Verfahren zur mikroskopischen Charakterisierung unterschiedlichster Materialen. Hierbei ist sie in eine Reihe materialwissenschaftlich ausgerichteter Verbundprojekte eingebunden. Die beantragte Dual-beam FIB stellt ein essenzielles Tool für die Zielpräparation von TEM-Proben dar und wird von der Arbeitsgruppe für ihre vielseitigen Arbeiten dringend benötigt. Bislang bestand nur eingeschränkt (und übergangsweise) Zugang zu einem solchen Gerät. Wichtige FIB-Anwendungen betreffen u.a. (i) die Zielpräparation ausgewählter Probenbereiche mittels lift-out, (ii) das Schneiden von Kompositen und Schichtstrukturen aus harten und weichen Materialien, (iii) die gezielte TEM-Querschnittspräparation einzelner Nanopartikel (shadow-FIB Eigenentwicklung), (iv) die Herstellung von Säulenstrukturen für die 360°- Elektronentomographie, (iv) das Schneiden unterschiedlicher Probengeometrien für in-situ nanomechanisches Testen im TEM. Die FIB wird durch die Arbeiten der AG Elektronenmikroskopie weitgehend ausgelastet sein. Verbleibende Nutzungszeiten sollen in der CENEM-Nutzereinrichtung eingesetzt werden.“