Development of low temperature Ge atomic layer etching for 3D integration
开发用于 3D 集成的低温 Ge 原子层蚀刻
基本信息
- 批准号:19K15053
- 负责人:
- 金额:$ 2.75万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- 财政年份:2019
- 资助国家:日本
- 起止时间:2019-04-01 至 2021-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(2)
专著数量(0)
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