Development of large-area dislocation detection and classification techniques for next-generation power semiconductor beta-Ga2O3
Development of large-area dislocation detection and classification techniques for next-generation power semiconductor beta-Ga2O3
下一代功率半导体β-Ga2O3大面积位错检测和分类技术开发
批准号：
20K05355
负责人：
Yao Yongzhao
金额：
$2.75万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2020
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2020-04-01 至 2023-03-31
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Operando and ex-situ XRT observation of dislocations in β-Ga2O3 SBDs and their glide and multiplication under device operation
β-Ga2O3 SBD 中位错的原位和异位 XRT 观察及其在器件操作下的滑移和倍增
β-Ga2O3 SBD 中位错的原位和异位 XRT 观察及其在器件操作下的滑移和倍增
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Yao, D. Wakimoto, H. Miyamoto, K. Sasaki, A. Kuramata, K. Hirano, Y. Sugawara, Y. Ishikawa]
通讯作者：
Y. Ishikawa
Domain boundaries in ScAlMgO<sub>4</sub> single crystal observed by synchrotron radiation x-ray topography and reticulography
同步辐射X射线形貌和网状成像观察ScAlMgO<sub>4</sub>单晶晶畴边界
同步辐射X射线形貌和网状成像观察ScAlMgO<sub>4</sub>单晶晶畴边界
DOI：
10.1088/1361-6641/ac974b
发表时间：
2022
期刊：
Semiconductor Science and Technology
影响因子：
1.9
作者：
[Yao Yongzhao, Hirano Keiichi, Sugawara Yoshihiro, Ishikawa Yukari]
通讯作者：
Ishikawa Yukari
X-ray topography of crystallographic defects in wide-bandgap semiconductors using a high-resolution digital camera
使用高分辨率数码相机对宽带隙半导体中的晶体缺陷进行 X 射线形貌分析
使用高分辨率数码相机对宽带隙半导体中的晶体缺陷进行 X 射线形貌分析
DOI：
10.35848/1347-4065/abd2dd
发表时间：
2021
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics
影响因子：
1.5
作者：
[Yao Yongzhao, Sugawara Yoshihiro, Ishikawa Yukari, Hirano Keiichi]
通讯作者：
Hirano Keiichi
Observation of dislocations in thick β-Ga2O3 single-crystal substrates using Borrmann effect synchrotron X-ray topography
使用博尔曼效应同步加速器 X 射线形貌观察厚 β-Ga2O3 单晶基板中的位错
使用博尔曼效应同步加速器 X 射线形貌观察厚 β-Ga2O3 单晶基板中的位错
DOI：
10.1063/5.0088701
发表时间：
2022
期刊：
APL Materials
影响因子：
6.1
作者：
[Yao Yongzhao, Hirano Keiichi, Sugawara Yoshihiro, Sasaki Kohei, Kuramata Akito, Ishikawa Yukari]
通讯作者：
Ishikawa Yukari
X線回折によるパワー半導体単結晶基板の結晶面湾曲の3D可視化
使用 X 射线衍射对功率半导体单晶衬底的晶面曲率进行 3D 可视化
使用 X 射线衍射对功率半导体单晶衬底的晶面曲率进行 3D 可视化
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Takuma Kobayashi, Takato Nakanuma, Asato Suzuki, Mitsuru Sometani, Mitsuo Okamoto, Akitaka Yoshigoe, Takayoshi Shimura, and Heiji Watanabe, 姚永昭]
通讯作者：
姚永昭
共 16 条
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