Design of dependable Analog Mixed-Signal LSI with intermittent operation of fault detection system

具有故障检测系统间歇操作的可靠模拟混合信号LSI的设计

• 批准号: 23500067
• 负责人: TACHIBANA Masayoshi
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: Kochi University of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23500067/
• 关键词: ディペンダブルコンピューティング; Analog Mixed-Signal; Analog-Mixed-Signal; Buit-In Self Test; Analog Mixed Signal; カタストロフィック故障; Build-In Self Test

We propose fault-based BIST(Built-In Self Test) schemes for Anlog part of AMS(Analog Mixed-Signal) system LSI. The BIST systems can be used throughout life time of LSIs, from fabrication process to the system's operation. The motif of analog system to design BIST system is Anlog-to-Digital or Digital-to-Analog data convertor which is commonly used sub-system in AMS LSI systems.We chose 3 types of circuits which compose the data convertor, which are R-2R ladder type Digital-to-Analog convetor, Fully-differential sample-and-hold circuit, and Operational Amplifers with different architectures. The BIST systems are based on transient respose of circuits and fault coverage for Caterstrofic faults, such like open/short fault of circuit elements, are about 86% to 96% with resonable area overhead.

针对模拟混合信号（AMS）系统LSI的模拟部分，提出了基于故障的内建自测试（BIST）方案。BIST系统可以在LSI的整个生命周期中使用，从制造过程到系统的操作。 模拟系统设计BIST系统的核心是AMS LSI系统中常用的模数或数模数据转换器，本文选择了三种不同结构的电路组成数据转换器，即R-2 R梯形数模转换器、全差分采样保持电路和运算放大器。内建自测试系统是基于电路的瞬态响应和故障覆盖率的Caterstrofic故障，如电路元件的开路/短路故障，约为86%至96%，与合理的面积开销。

项目成果

ブートストラップスイッチ回路を用いたΔΣ変調回路の設計と評価

使用自举开关电路的ΔΣ调制电路的设计和评估

• 作者: 西面尚彰;橘 昌良
• 通讯作者: 橘 昌良

A BIST Scheme for Amplifier by Checking the Stable output of Transient Response

一种检查瞬态响应稳定输出的放大器内建自测试方案

• 发表时间: 2011
• 作者: Yuan Jun;Masayoshi Tachibana
• 通讯作者: Masayoshi Tachibana

電圧不感型基準電流回路のためのトリミング回路の設計

电压不敏感参考电流电路微调电路设计

• 发表时间: 2012
• 作者: 渡辺勇磨;橘 昌良
• 通讯作者: 橘 昌良

A common-mode BIST technique for fully-differential sample-and-hold circuits

用于全差分采样保持电路的共模 BIST 技术

• DOI: 10.1587/elex.9.1128
• 发表时间: 2012
• 期刊: IEICE Electronics Express
• 影响因子: 0.8
• 作者: Jun Yuan;Masayoshi Tachibana
• 通讯作者: Masayoshi Tachibana

低電圧バンドギャップリファレンスの設計

低电压带隙参考设计

• 作者: 坂東拓弥;橘 昌良
• 通讯作者: 橘 昌良