低エネルギー放射線による遺伝的障害の基礎過程

低能辐射引起的遗传性疾病的基本过程

基本信息

批准号：
62480461
负责人：
佐々木正夫
金额：
$ 3.84万
依托单位：
Kyoto University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
财政年份：
1987
资助国家：
日本
起止时间：
1987 至 1988
项目状态：
已结题

项目摘要

昨年度はシンクロトロン放射より得られる4.8keVから14.6keVの単色軟X線による染色体異常誘発率の解析から染色体異常が形成される過程には2個の1次損傷の相互作用があることを明らかにし、基礎過程に関する新しい仮説を提唱した。本年度は、さらにエネルギーの低い単色X線(2keV)で染色体異常誘発率を調べ、線量効果に線量係数の第1次項(α項)が消失し、光電子の飛程が生物学的効果の重要な要素となっていることから我々の仮説を支持する結果が得られた。単色低エネルギーX線のDNA傷害作用を知る方法に構成元素の吸収端を利用した共鳴効果が考えられるDNAの構成元素である燐の吸収端に近い2.15keVX線は吸収端を外れた2.14keVX線より効率がよく、また培地にBrdUを添加し、同様にブロムの吸収端のエネルギーのX線で照射すると染色体異常の収率に共鳴効果が認められた。この結果は、オージェ電子による集中的エネルギ付与が染色体傷害作用に有効に働いていることを示し、低エネルギーX線の応用面として癌治療などに共鳴効果に基づく光子活性化療法の可能性を示唆する。低エネルギー中性子に関しては、本年度は近畿大学原子力研究所の原子炉(1W)より得られる低エネルギー核分裂中性子による染色体傷害作用を調べた。この中性子はエネルギースペクトの幅が広く、低エネルギー領域にも分散し広島における原子爆弾中性子のエネルギー分布に近似している。しかし、染色体異常に対する効率は、昨年度の実験で得られた^<235>Uエネルギーコンバーターから得られる核分裂中性子と近似してした。得られた核分裂中性子の生物学的効果比に基づいて広島・長崎の原爆被曝者の染色体異常の出現頻度(文献例)を分析すると、広島の原爆中性子が現在新線量体系(DS86)で推定されている量の約5倍あったとした場合、最も無理なく説明できる。

去年，单色软X射线从4.8 keV到14.6 keV从同步辐射获得的单色软X射线对染色体异常诱导速率的分析表明，在染色体异常过程中，两个主要损害之间存在两种主要损害，并提出了有关基本过程的新假设。今年，我们进一步研究了具有低能单色X射线（2KeV）的染色体异常诱导率，并找到了支持我们假设的结果，因为剂量系数的第一阶项（α项）在剂量效应中消失了，光电范围是生物学作用中的重要因素。一种了解单色低能X射线的DNA损伤效应的方法被认为具有使用组成元素的吸收边缘具有共振效果。 2.15 DNA成分元素的吸收边缘附近的KeV X射线比2.14 KeV X射线更有效，而DNA成分元素的吸收边缘的2.14 keV X射线。同样，当将BRDU添加到培养基中并在Brom吸收边缘的能量上用X射线辐射时，观察到染色体异常的产率的共振效应。这些结果表明，螺旋电子赋予的密集能量对染色体损伤作用有效，这表明基于癌症治疗中的谐振作用等，可以使用光子激活疗法，作为低能X射线的应用。关于低能中子，今年我们研究了从金基大学核研究所的反应堆（1W）获得的低能核裂变中子的染色体损伤作用。这些中子具有广泛的能源，并且分布在低能区域，使它们近似于广岛的原子弹中子的能量分布。但是，对染色体异常的效率近似于从去年实验中获得的 ^<235> U能量转换器获得的核裂变中子。当基于获得的核裂变中子的生物学效应比，在分析广岛和长崎原子炸弹幸存者中发生染色体畸变的发生频率（示例文献）时，最容易解释了Hiroshima Atomic Bomk中性量是否估计了五倍的量估计了新剂量的系统（ds System）（ds dos dos dos system）（ds dos dos dos dos dos dos dos dos dos ys ds dos ds ds y ds dos system（ds ds）（ds）（ds）（ds）（ds）（ds）（ds86666666686）。