权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

微粉体誘電体による気体(SF_6、空気)の絶縁耐力上昇機構に関する研究

利用细粉电介质提高气体（SF_6、空气）介电强度的机理研究

基本信息

批准号：
04650227
负责人：
田頭博昭
金额：
$ 1.41万
依托单位：
Hokkaido University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
财政年份：
1992
资助国家：
日本
起止时间：
1992 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

本研究では、粒径の異なる4種類のSiO_2ファインパウダ(12μm、36μm50μm、150μm)ならびに異なる材質のパウダとしてSi_3N_4ファインパウダを空気中に浮遊させ、絶縁破壊電圧の測定を行いその諸特性について検訂した。また実験の際、質量の大きいパウダはファンによる浮遊が困難のため、電極間にパウダを散布する装置を作成し、2つの装置を用いて測定を行なった。結果を以下に示す。(1) 12μmパウダを使用し、ファンを作動させた状態の交流絶縁破壊において、電極間にパウダのブリッジが形成されなくても絶縁破壊電圧は上昇した。この時、両電極に付着したパウダが電極間に流れこむのがみられ、これが絶縁破壊電圧の上昇に寄与しているものと思われる。 36μmパウダで同様の実験を行なったが、12μmパウダで確認されたほどの大きな絶縁破壊電圧の上昇はみられていない。(2) 散布装置を用いた4種類の粒径の異なるSiO_2パウダに対する測定では、どの粒径のパウダも絶縁破壊電圧の大きな上昇は見られなかったが、粒径の大きいパウダと、小さいパウダではわずかであるが差があると思われる。また、同じ粒径でありながらファンによる結果(12μm、36μm)と差があるのは、電極付近にあるパウダの量の違いが影響しているものと考えられる。(3) Si_3N_4パウダによる絶縁破壊実験ではパウダが重いため浮遊している量が少なく、絶縁破壊電圧の上昇はあまり見られない。散布の装置に替えて同様に測定を行なっても大きな上昇はみられていない。(4) 直流での測定において、パウダが陽極側に多量に付着しており、パウダ自身は負に帯電しているものと考えられる。

In this study, four kinds of SiO_2 particles (12μm, 36μ m, 50 μm, 150μm) with different particle sizes were studied. In addition, the quality of the product is measured by the method of measuring the quality of the product. The results are shown below. (1)12μm high voltage AC insulation between electrodes The current between the electrodes is increased and the voltage is decreased. 36μm, 12μm, and 10 μm. (2)The dispersion device is used to measure the particle size of four kinds of SiO_2 particles. The particle size of SiO_2 particles is different from that of SiO_2 particles. The results (12μm, 36μm) of the same particle size and the difference between the electrode size and the electrode size affect the results. (3)Si_3N_4 is the only one with the highest voltage. Dispersal device for the same determination of the large number of rise in the middle of the (4)DC voltage measurement is carried out on the anode side, and the negative voltage measurement is carried out on the anode side.