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大強度衝突型加速器実験用シリコン・ストリップ検出器用信号読み出しLSIの開発

开发用于高强度对撞机实验的硅条探测器信号读出LSI

基本信息

批准号：
12440059
负责人：
田島宏康
金额：
$ 6.02万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2000
资助国家：
日本
起止时间：
2000 至 2001
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-12440059/
关键词：
シリコンストリップ検出器半導体検出器放射線損傷低雑音エレクトロニクス重いフレーバーの物理 CP非保存宇宙物理学データ収集システム素粒子 CP violation B中間子高エネルギー物理小林・益川理論シリコン検出器

项目摘要

本研究は、シリコン検出器用信号読み出しVLSIの放射線耐性の向上、トリガー機能を持たせること、暗電流補償回路を実現することを目的とする。本年度は、前年度設計したVLSI回路に基づき、試作品を製作しその性能を検証した。今回の試作品では、トリガー回路導入に伴って複雑化した回路の検証を重点に置いた。最初に、トリガー回路導入に伴い、バイアス電圧・電流生成回路を内蔵することによる影響を検証した。これは、トリガー回路関係の信号用パッドの増加に伴い、信号パッドの数が増えすぎたため、今まで外部からバイアス電圧・電流を供給してきたパッドを省略できるようにするための措置であった。試作品において、バイアス電圧・電流がほぼ設計通り生成されていることを確認した。若干のずれが見られるので、最終設計では、それを考慮した設計変更を行う。次に、トリガー回路自身の性能を測定し、これもほぼ設計通りの性能を達成していることを確認した。ただし負の信号に対して、トリガーできる信号の範囲がずれていることが判明したので、その原因をシミュレーションによって特定した。現在、その修正方法をシミュレーションによって検討している。

In this study, the signal generator was used to signal that the radiation tolerance of VLSI was improved, the machine was able to maintain the tolerance, and the dark current loop was used to detect the effect of radiation tolerance. In the current year and the previous year, the design of the VLSI circuit basic and test works will be designed to improve the performance of the project. This time, you will try to copy the circuit and focus on the design of the circuit. In the first place, the circuit is connected to the companion, and the current generation loop is generated. The equipment is used to increase the number of equipment, the number of signals, and the current supply of electricity from the power supply circuit is omitted. Try to make a copy of the software and generate a confirmation of the design of the electronic current and current equipment. There are a number of applications, such as the most advanced design, the most recent design, and the more recent design of the design. The secondary and secondary circuits have their own performance test, and the performance of the circuit is verified by the performance of the circuit. Tell me about the signal, the signal. At present, we need to correct the method to correct the situation.