Verfahren zur ausfallsicheren Verdrahtung von Signalnetzen in integrierten Schaltungen

随着结构化生产的逐步减少，集成Schaltkreisen将更快的芯片引入到生产中。无论是直接还是间接的内策技术，都可以通过数字化技术实现。Densitiveränderte Herstellungsprozesse steigt der Anteil der Chips，deren Fehlfunktion auf eine Leitungsunterbrechung zurückzuführen ist，verglichen mit dem Anteil fehlerchunter Chips durch Kurzschlüsse. Bäumen形式的教育学并不是最佳选择。在这个项目中，韦尔登将有新的研究人员来研究如何抵抗气候变化。最好的方法是，通过zyklische Topologien来构造结构。

Durch die voranschreitende Reduktion von Strukturgrößen in integrierten Schaltkreisen sinkt die Ausbeute fehlerfreier Chips nach der Fertigung. Sind Leitungen unterbrochen oder sind unterschiedliche Netze kurzgeschlossen, kommt es bei Digitalschaltungen zu logischen Fehlern. Durch veränderte Herstellungsprozesse steigt der Anteil der Chips, deren Fehlfunktion auf eine Leitungsunterbrechung zurückzuführen ist, verglichen mit dem Anteil fehlerhafter Chips durch Kurzschlüsse. Bisherige verwendete Leitungstopologien in Form von Bäumen sind daher bezüglich der Ausbeute nicht mehr optimal. In diesem Projekt werden neue Algorithmen zur Erzeugung unterbrechungsresistenter Leitungstopologien erforscht. Der Ansatz besteht darin, Baumstrukturen durch zyklische Topologien zu ersetzen.