Verfahren zur ausfallsicheren Verdrahtung von Signalnetzen in integrierten Schaltungen

在集成电路中，Schaltkreisen和Schaltkreisen结合在一起，Schaltkreisen和Schaltkreisen结合在一起，Schaltkreisen和Schaltkreisen结合在一起。1 .数据分析与数据分析：数据分析与数据分析Durch veränderte Herstellungsprozesse steigt der Anteil der Chips, deren Fehlfunktion auf eine Leitungsunterbrechung zurckzuf<e:1> hren ist, verglichen mit dem Anteil fehlerhafter Chips Durch kurzschl<e:2> sse。参考文献：1 .德国科学与技术研究所，德国科学与技术研究所，德国科学与技术研究所。在此基础上，提出了一种新的算法。德国安萨茨最好的darin， Baumstrukturen duch zyklische Topologien zuersetzen。

Durch die voranschreitende Reduktion von Strukturgrößen in integrierten Schaltkreisen sinkt die Ausbeute fehlerfreier Chips nach der Fertigung. Sind Leitungen unterbrochen oder sind unterschiedliche Netze kurzgeschlossen, kommt es bei Digitalschaltungen zu logischen Fehlern. Durch veränderte Herstellungsprozesse steigt der Anteil der Chips, deren Fehlfunktion auf eine Leitungsunterbrechung zurückzuführen ist, verglichen mit dem Anteil fehlerhafter Chips durch Kurzschlüsse. Bisherige verwendete Leitungstopologien in Form von Bäumen sind daher bezüglich der Ausbeute nicht mehr optimal. In diesem Projekt werden neue Algorithmen zur Erzeugung unterbrechungsresistenter Leitungstopologien erforscht. Der Ansatz besteht darin, Baumstrukturen durch zyklische Topologien zu ersetzen.