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電子衝撃による非発光ラジカル分子の散乱角依存性の測定

通过电子碰撞测量非发射自由基分子的散射角依赖性

基本信息

批准号：
06228227
负责人：
田中大
金额：
$ 1.28万
依托单位：
Sophia University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1994
资助国家：
日本
起止时间：
1994 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

CH_4のほとんどすべての電子励起状態は解離性であり、その中で励起しきい値近傍に位置する1^2T_2,1^1T_2状態は非発光中性ラジカル生成で特に重要な役割を果たすことが期待されている。今年度研究計画で低エネルギー電子衝突により、CH_4の最低三重項電子状態(1^3T_2)の励起断面積の角度依存性を、入射電子エネルギー15,20eVで初めて測定した。現在、しきい値イオン化質量分析法により、この状態から解離してくるCH_2又はCH_3の直接測定を進行中である。前年度研究計画に従い、気相分子CH_4F,CH_4F_2,CHF_3,NF_3,C_2F_6,C_3F_8の低エネルギー電子衝突スペクトルにより、これら分子の振動励起に現われる短寿命負イオン生成過程を組織的に調べた。また、電子衝撃による表面吸着分子からの短寿命負イオン生成過程の研究で、基板として用いるCoO単結晶をLEEDで分析したところ、磁性構造からの交換反射回折スポットの観察にも成功した。これらの成果は、3件の論文、4件の国際会議発表、11件の国内会議発表として公表されている。

The CH_4 generator generates a critical load response, the central generator activates the switch near the location 1 ^ 2T _ 2, and the 1 ^ 1T _ 2 status is non-luminous neutral. It generates a special important service environment that is expected to be sensitive. This year's research plan is to measure the cross-section active angle dependence of the low-voltage generator and the lowest triple-cell state (1 ^ 3T _ 2) of the CH_4 generator, and the initial measurement of the incident electron beam at 15 and 20eV. At present, the quantitative analysis method is in progress, and the CH_3 test is in progress. In the previous year, the study planned to generate a short-life cycle for short-life cycles in the previous year, in which CH_4F,CH_4F_2,CHF_3,NF_3,C_2F_6,C_3F_8 molecules, phase molecules, and phase molecules were used to generate short-life cycles. The surface absorption of molecules on the surface of the electron and electronic devices, the study of the formation process of the short-life cycle, the CoO analysis of the substrate, the LEED analysis of the substrate, and the cross-reflection reflection of the substrate were analyzed successfully. The results, 3 articles, 4 International Conference tables, 11 domestic tables and public tables.