カルコゲンマイクロクラスターの基底状態と励起状態

硫族微团簇的基态和激发态

• 批准号: 08230219
• 负责人: 八尾 誠
• 金额: $ 0.96万
• 依托单位: Kyoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1996
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1996 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-08230219/
• 关键词: カルコゲン; マイクロクラスター; 解離過程; X線吸収分光; 光電子分光

1.カルコゲン・マイクロクラスターにおける解離過程我々は、超音速ジェット法を利用するクラスター作製装置を製作し、電子衝撃法によりイオン化したクラスターについて、飛行時間型質量分析器により質量分析を行った。イオウクラスターでは、クラスター源の温度が200℃のとき、S_8^+までのイオンが観測された。電子衝撃エネルギーE_eを変えていくと、イオン化の閾値近傍のエネルギーではS_8^+やS_7^+クラスターが優勢であるが、E_eの増大に伴いS_6^+やS_5^+が増大した。更にE_eを増すとS_6^+やS_5^+の強度が減り、より小さいクラスターの出現確率が高くなった。興味深いことには、偶数クラスター(あるいは奇数クラスター)の相対強度の総和は、ほぼ一定であった。これらの結果から、イオウ・クラスターに電子衝撃を加える時、中性のダイマーが放出されると考えるのが自然である。但し、実験結果を定量的に再現するためには、S_8^+が他のクラスターより安定であることを考慮しなければならないことが分かった。また、セレン・クラスターについても同様の実験を行い、E_eが15eV以下では中性ダイマーの放出を仮定すれば実験結果を再現することができることが分かった。2.カルコゲン・マイクロクラスターのX線吸収分光高エネルギー物理学研究所のシンクロトロン放射光を利用して、セレン・クラスタービームのX線吸収分光(XAFS)測定の初めての試みを行った。XAFSは通常、試料中を透過するX線の減衰測定により得られるが、クラスター試料は非常に希薄であるため、我々は電子収量法を採用し、セレンのK吸収端で明瞭なジャンプを観測した。平成9年秋には、西播磨に建設中の大型放射光源の共同利用が開始されるので、今後の発展が期待される。3.カルコゲン・マイクロクラスターの質量選別光電子分光光照射-光電子-光イオン三重同時計測による質量選別光電子分光装置を開発した。このための自励式ナノ秒パルス光源を新たに開発し、予備的な実験としてトリエチルアミンの光電子分光を行った。

1. Dissociation process, ultrasonic process, electron impact process, mass analysis by time-of-flight mass analyzer. The temperature of the source of the gas is 200℃ and the temperature of the gas is 200℃. The electron shock generation E_e is changed to S_8^+ S_7 ^+ S_5 ^+ S_6 ^+ S_6 ^+ S_5 ^+ S_6 ^+ S_7^+ S_6 ^+ S_5 ^+ S_6 ^+ S_6 ^+ S_7^+ S_6 ^+ S_6 ^+ S_5 ^+ S_6 ^+ S_7^+ S_6 ^+ S_5 ^+ S_6 ^+ S_6 ^+ S_7^+ S_6 ^+ S_6 ^+ S_7 ^+ S_6^+ S_6^+ S_5^+ S_6^+ S_6 ^+ S_7 ^+ S_6 ^+ S_7 ^+ S_6 ^+ S_6 ^+ S_5^+ S_6 ^+ S_6 ^+ In addition, the intensity of E_e increases and the occurrence rate of S_6 ^+ and S_5 ^+ decreases. The intensity of the opposite phase is the sum of the opposite phases and the opposite phases of the opposite phases. The result of this is that when the electron impact is added, the neutral electron impact is released. However, the quantitative reproduction of the results is considered. For example, if E_e is less than 15eV, the emission of neutral gas will be stable, and the result will be reproduced. 2. X-ray absorption spectroscopy (XAFS) measurement of X-ray absorption spectroscopy (XAFS) at the Institute of Physics. XAFS is used to measure attenuation of X-rays transmitted through samples in general and samples in special cases. XAFS is used to measure attenuation of X-rays transmitted through samples by electron microscopy. In the autumn of Heisei 9, the joint use of large-scale radioactive light sources in the construction of Nishiharo began, and future development is expected. 3. Mass selective photoelectron spectroscopic irradiation-photoelectron-photoelectron triple simultaneous measurement A new type of light source is developed, and a new type of photoelectron spectroscopy is prepared.

项目成果

K.Nagaya et al: "Fragmentation of Chalcogen Microclusters" Transaction of Material Research Society. 20. 404-407 (1996)

K.Nagaya 等人：“硫属微团簇的碎片”材料研究学会汇刊。