原子像実空間観察を用いた酸素フリーGe表面創成型湿式洗浄プロセスの開発

利用实空间原子图像观察开发无氧Ge表面湿法清洗工艺

基本信息

  • 批准号:
    19026008
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.66万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 财政年份:
    2007
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2007 至 无数据
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

次世代の高性能半導体デバイスを実現するために、シリコンと比して電子・ホール共に高い移動度を有するゲルマニウム(Ge)基板が注目されている。半導体デバイスの性能は、金属-酸化物-半導体構造中のゲート絶縁膜の電気的性質に大きく依存し、これはゲート絶縁膜形成直前に行われる半導体基板の湿式洗浄プロセスにより決定される。本研究では、搬送を含む雰囲気中の酸素濃度を精密に制御することにより、薬液と相互作用するGe特有の現象を原子像実空間観察により解明し、高信頼性ゲート絶縁膜形成に適合したGe表面湿式洗浄プロセスを開発することを目的とする。まず、有機溶媒による脱脂処理を施したGe(111)表面に対して、超高真空中で800℃30秒の熱処理を施し、原子レベルで平坦なステップ/テラス構造を作製した。次にUVオゾン処理により化学酸化膜を形成した。そして、化学酸化膜の除去と表面のCl終端化が期待できるHCl溶液中にGe試料を浸漬し、両者の相互作用や得られる表面構造の原子レベルでの解明を行った。その結果、余剰な自然酸化膜の無いCl終端表面を得るためには、HC1浸漬及びその後の搬送過程における不活性ガスによるパージ雰囲気(酸素ガスフリー)が必要不可欠であることをX線光電子分光により確認した。次に、HCl浸漬を経たGe(111)表面を原子間力顕微鏡観察し、(1)ステップ/テラス構造が維持されていること(2)ステップ段差が二原子分(バイレイヤー高さ)であるごとを確認し、表面の大部分においてC1終端化された1×1構造が形成されていると結論付けた。また、走査型トンネル顕微鏡による高分解能観察を行い、局所的には原子レベルの輝点や、60°〜90°を成すステップ端らしき構造が観察されているが、10nm^2オーダー以上の広いテラスは観察できず、原子スケールでのマイクロラフネスは依然として大きいことを確認した。
The next generation of high-performance semiconductor devices are now in the spotlight. The properties of semiconductor substrates depend greatly on the electrical properties of the insulating films in metal-acid-semiconductor structures, which determine the wet cleaning process of semiconductor substrates prior to the formation of insulating films. This study aims to precisely control the concentration of acid in the transport medium, and to investigate the phenomenon unique to Ge in atomic image space, and to elucidate the formation of high reliability insulating film suitable for Ge surface wet cleaning. Ge(111) surface was degreased in organic solvent and heat treated at 800℃ for 30 seconds in ultra-high vacuum to prepare a flat Ge(111) structure. Second, the UV treatment of chemical acidification film formation The removal of Cl from the surface of the chemically acidified film is expected to result in the immersion of Ge in HCl solution, the interaction of Ge and the dissolution of the atomic structure of the surface. As a result, the remaining natural acidified films are free of chlorine and terminal surfaces. The HC1 impregnation and transfer process are necessary to confirm the deactivation of the films. The results show that: (1) the structure of Ge(111) surface is maintained;(2) the structure of Ge (111) surface is terminated by C1; and (3) the structure of Ge (111) surface is formed by C1 termination. The high resolution energy of the micro-mirror is detected in the middle of the investigation, and the atomic light is detected in the middle of the investigation.

项目成果

期刊论文数量(5)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Development of Wet-chemical Procedures to Control Emerging Semiconductor Surfaces on the Atomic Scale
开发在原子尺度上控制新兴半导体表面的湿化学程序
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kazufumi;Yoneda・Junichi;Uchikoshi・Mizuho;Morita・Kenta Arima
  • 通讯作者:
    Morita・Kenta Arima
低速電子線回折によるHCI浸漬後のGe表面の終端構造評価
使用低速电子衍射评估 HCI 浸没后 Ge 表面的终止结构
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    米田和史;打越純一;森田瑞穂;有馬健太
  • 通讯作者:
    有馬健太
LEED and AFM Study of Cl-terminated Ge(111) Surfaces after HCl Dipping
HCl 浸渍后 Cl 封端 Ge(111) 表面的 LEED 和 AFM 研究
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kazufumi;Yoneda・Junichi;Uchikoshi・Mizuho;Morita・Kenta Arima
  • 通讯作者:
    Morita・Kenta Arima
Wet-Chemical Preparations of Cl-terminated Ge(111)1x1 Surfaces
Cl封端Ge(111)1x1表面的湿化学制备
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kazufumi;Yoneda・Junichi;Uchikoshi・Mizuho;Morita・Kenta Arima
  • 通讯作者:
    Morita・Kenta Arima
酸系溶液によるGe(111)表面の終端構造原子スケール制御
使用酸性溶液对Ge(111)表面末端结构进行原子尺度控制
  • DOI:
  • 发表时间:
    2007
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    米田和史;打越純一;森田瑞穂;有馬健太
  • 通讯作者:
    有馬健太
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  • 资助金额:
    $ 1.66万
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    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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知道了