Experimental waveform study of SET pulses leading to soft errors in logic LSI

导致逻辑LSI软错误的SET脉冲的实验波形研究

• 批准号: 20760228
• 负责人: KOBAYASHI Daisuke
• 金额: $ 2.75万
• 依托单位: Japan Aerospace Exploration Agency
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2008 至 2009
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20760228/
• 关键词: ソフトエラー; 電子デバイス・機器; 半導体物性; 放射線・X線・粒子線; 宇宙線; モデリング; 放射線,X線,粒子線; 解析式; ディペンダブルコンピューティング; シングルイベント効果; シングルイベントトランジェント; SET; 放射線; 信頼性

放射線が論理回路に当たるとパルス状のノイズが発生し回路が誤動作してしまう.このノイズパルスをSETパルスと呼び,対策のためにその波形を明らかにする必要がある.そのための手法を提案し,半導体製造技術の一つである完全空乏型SOI技術で作成した論理回路に適用して,そこで発生するSETパルスの波形を観測することに成功した.更に,その波形を物理的に説明する解析式を導出した.

The radiation logic loop is not working properly. This is the first time I've ever seen a woman. The semiconductor manufacturing process is a completely depleted SOI technology, which is suitable for making logic circuits, and the waveform of SET circuits is successfully measured. In addition, the analytical expression of the physical waveform is derived.

项目成果

Waveform Observation of Digital Single-Event Transients Employing Monitoring >Transistor Technique

• DOI: 10.1109/tns.2008.2006836
• 发表时间: 2008-12
• 期刊: IEEE Transactions on Nuclear Science
• 影响因子: 1.8
• 作者: D. Kobayashi;K. Hirose;Y. Yanagawa;H. Saito;V. Ferlet-Cavrois;D. McMorrow;P. Paillet;M. Ohno

Analytical expression for temporal width characterization of radiation-induced pulse noises in SOI CMOS logic gates

SOI CMOS 逻辑门中辐射引起的脉冲噪声的时间宽度表征的解析表达式

• 发表时间: 2009
• 作者: D. Kobayashi;T. Makino;K. Hirose
• 通讯作者: K. Hirose

Device-physics-based analytical model for single event transients in SOI CMOS logics (審査済・発表決定)

SOI CMOS 逻辑中单事件瞬态的基于器件物理的分析模型（经过审查并决定出版）

• 发表时间: 2009
• 作者: 松浦基晴;來住直人;D.Kobayashi et al.
• 通讯作者: D.Kobayashi et al.

SOI CMOSデバイスで発生する放射線誘起パルスノイズSETの解析モデル

SOI CMOS 器件中产生的辐射引起的脉冲噪声 SET 的分析模型

• 发表时间: 2009
• 作者: 小林大輔;他
• 通讯作者: 他

第27回(2009年秋季)応用物理学会講演奨励賞受賞

荣获第27届（2009年秋季）日本应用物理学会讲座鼓励奖