Untersuchung der elektronischen und geometrischen Struktur von Wolframoxidclustern mit einem VUV-Freie-Elektronen-Laser

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Die Struktur von massenseparierten Clusterionen soll mit Hilfe der Strahlung des Freien Elektronenlasers in Hamburg untersucht werden. Als Methode wird die Flugzeit-Photoelektronenspektroskopie verwendet und die im Vergleich zu Standard-Laserexperimenten höhere Photoenenergie eröffnet neue Perspektiven. Für die Elemente Ge, Sn, W und Ta, die Innenschalenniveaus mit relativ niedriger Bindungsenergie besitzten, wird es erstmals möglich sein, Innerschalenspektren von Massenseparierten Clusterionen aufzunehmen. XPS erlaubt einen Einblick in die geometrische Struktur, die sonst praktisch nicht experimentell zugänglich ist. Konkret sind XPS Messungen an reinen Wn- und reagierten WnOm- Clustern geplant, da Sauerstoff auf Wolframoberflächen ein gut bekanntes System ist. Weiterhin wurden in Vorstudien Hinweise auf eine Kopplung der geometrischen Struktur der WnOm- Clustern mit ihren physikalischen und chemischen Eigenschaften gefunden. Diese Arbeiten sollen an einer im Rahmen einer Kollaboration aufgebauten Clusterapparatur am FEL durchgeführt werden. Für die XPS-Messungen an den Oxiden muss die Clusterintensität durch Einbau einer zusätzlichen "Bunching"-Technik weiter gesteigert werden.