Development of Liquid High-Speed Atomic Force Microscopy With atomic resolution

具有原子分辨率的液体高速原子力显微镜的发展

基本信息

  • 批准号:
    22656014
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.21万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份:
    2010
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2010 至 2011
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

The objective of this research is to develop the high-speed atomic force microscopy with the capability to observe individual atoms on the surface in liquid and those dynamic phenomena. So we improved the all components(cantilever, scanner, deflection sensor, phase detector, and control circuit) of the high-speed atomic force microscopy. We also theoretically and experimentally clarified the measurement conditions to achieve the high spatial and time resolutions.
这项研究的目的是发展高速原子力显微镜,能够观察液体中表面的单个原子和这些动态现象。因此,我们对高速原子力显微镜的所有部件(悬臂梁、扫描仪、偏转传感器、鉴相器和控制电路)进行了改进。并从理论和实验上阐明了实现高空间分辨率和高时间分辨率的测量条件。

项目成果

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专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
"プローブ顕微鏡用高速アクチュエータの開発"エヌ・ティー・エヌ、新アクチュエータ開発の最前線
“探针显微镜用高速驱动器的开发” NTN,新型驱动器开发的最前沿
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    菅原康弘;李艶君;内藤賀公
  • 通讯作者:
    内藤賀公
Sub-nm Resolution Imaging on Sapphire Surface with Photon AFM
使用光子 AFM 在蓝宝石表面进行亚纳米分辨率成像
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M.Furukawa;Y.Naitoh;Y.J.Li;Y.Sugawara
  • 通讯作者:
    Y.Sugawara
Small-amplitude FM-AFM using a Si cantilever with very high stiffness and very high resonance frequency
使用具有极高刚度和极高谐振频率的 Si 悬臂的小振幅 FM-AFM
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Haze;Y. Naitoh;Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 通讯作者:
    Y. J. Li and Y. Sugawara
Stable Contrast Mode on TiO_2 (110) Surface by AFM with W-coated Tips
具有 W 涂层尖端的 AFM 在 TiO_2 (110) 表面上的稳定对比度模式
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y.J.Li;Y.Tsukuda;Y.Naitoh;Y.Sugawara
  • 通讯作者:
    Y.Sugawara
Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Determined by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5K
5K 下非接触原子力显微镜测定 Si(001) SA 台阶周围表面应力对二聚体结构的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y.Naitoh;Y.J.Li;H.Nomura;M.Kageshima;Y.Sugawara
  • 通讯作者:
    Y.Sugawara
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Assembly of nanostructure on insulating surfaces and investigation of gas reaction mechanism using atomic force microscopy
绝缘表面纳米结构的组装以及使用原子力显微镜研究气体反应机理
  • 批准号:
    16H06327
  • 财政年份:
    2016
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
Investigation of Mechanical Manipulation of Atoms and Molecules on Insulator Surfaces with Extreme Field Atomic Force Microscopy
用极场原子力显微镜研究绝缘体表面原子和分子的机械操纵
  • 批准号:
    20221004
  • 财政年份:
    2008
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
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使用原子力显微镜进行原子和分子操纵以及纳米结构的制造
  • 批准号:
    15201020
  • 财政年份:
    2003
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Measurement Condition on True Atomic Resolution Imaging of Noncontact Atomic Force Microscope
非接触式原子力显微镜真实原子分辨率成像的测量条件
  • 批准号:
    11450018
  • 财政年份:
    1999
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
Development of Electrostatic Force Microscope with Spatial Resolution For Elementary Charge
基本电荷空间分辨率静电力显微镜的研制
  • 批准号:
    11554013
  • 财政年份:
    1999
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
Measurement Condition for Atomic Resolution imaging on Reactive Surfaces Using Atomic Force Microscopy
使用原子力显微镜在反应表面上进行原子分辨率成像的测量条件
  • 批准号:
    09450018
  • 财政年份:
    1997
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Development of Photon Atomic Force Microscope
光子原子力显微镜的研制
  • 批准号:
    08554007
  • 财政年份:
    1996
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Study on True Atomic Resolution Imaging Using Noncontact Atomic Force Microscopy
非接触式原子力显微镜真原子分辨率成像研究
  • 批准号:
    07454067
  • 财政年份:
    1995
  • 资助金额:
    $ 2.21万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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