Investigation of Mechanical Manipulation of Atoms and Molecules on Insulator Surfaces with Extreme Field Atomic Force Microscopy

用极场原子力显微镜研究绝缘体表面原子和分子的机械操纵

• 批准号: 20221004
• 负责人: SUGAWARA Yasuhiro
• 金额: $ 58.99万
• 依托单位: Osaka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2008 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20221004/
• 关键词: 複合極限場; 原子間力顕微鏡; 絶縁体表面; 原子分子操作; ナノ構造体; ナノ物質; ポテンシャル面; 周波数シフト; 電子間力顕微鏡; CuO表面; ポテンシヤル面

Stable and reproducible mechanical manipulation of atoms and molecules on insulator surfaces has not been realized. In the present study, by using extreme field noncontact atomic force microscopy, we investigated the control conditions and the mechanism for performing the mechanism manipulation ofatoms on insulator surfaces. We also investigated the novel physical properties of nanostructures fabricated by the atom manipulation.

对绝缘体表面上的原子和分子进行稳定且可再现的机械操纵尚未实现。本研究利用极场非接触原子力显微镜研究了绝缘体表面原子机械操纵的控制条件和机制。我们还研究了由原子操纵制备的纳米结构的新的物理性质。

项目成果

High-Speed Phase-Modulation Atomic Force Microscopy in Constant-Amplitude Mode Capable of Simultaneous Measurement of Topography and Energy Dissipation

• DOI: 10.1143/jjap.47.6121
• 发表时间: 2008-07
• 期刊: Japanese Journal of Applied Physics
• 影响因子: 1.5
• 作者: Y. Li;N. Kobayashi;H. Nomura;Y. Naitoh;M. Kageshima;Y. Sugawara

Atomic Manipulation and Three-dimensional Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with LT NC-AFM

Cu(110)-O 表面原子操纵和三维力谱 LT NC-AFM

• 发表时间: 2012
• 作者: Y. Sugawara;Y. Kinoshita;Y. Naitoh;and Y. J. Li
• 通讯作者: and Y. J. Li

Atomic-Scale Imaging of B/Si(111) √3 x√3 Surface by Noncontact Atomic Force Microscopy

通过非接触原子力显微镜对 B/Si(111) √3 x√3 表面进行原子尺度成像

• DOI: 10.1143/jjap.47.8218
• 发表时间: 2008
• 期刊: Jpn. J. Appl. Phys
• 作者: M. Kinoshita;Y. Naitoh;Y. J. Li;M. Kageshima and Y. Sugawara
• 通讯作者: M. Kageshima and Y. Sugawara

原子間力顕微鏡の高感度化・高速化・多機能化

提高原子力显微镜的灵敏度、速度和多功能性

• 发表时间: 2009
• 作者: Asada;K.;Tomiwa;K.;Okada;M.;Itakura;S.;菅原康弘
• 通讯作者: 菅原康弘

Influence of Si Cantilever Tip with/without tungsten coating on NC-AFM Imaging of Ge(001)Surface

带/不带钨涂层的Si悬臂尖端对Ge(001)表面NC-AFM成像的影响

• 发表时间: 2009
• 期刊: Nanotechnology (In press)
• 作者: Y. Naitoh;Y. Kinoshita;Y. J. Li;M. Kageshima;and Y. Sugawara
• 通讯作者: and Y. Sugawara