Mechanism of stress-induced exothermic reaction in Ti/Si multilayer films and development of novel reactive bonding technique
Ti/Si多层薄膜中应力引起的放热反应机理及新型反应键合技术的发展
基本信息
- 批准号:16H04510
- 负责人:
- 金额:$ 11.73万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2016
- 资助国家:日本
- 起止时间:2016-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
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专利数量(0)
Influence of Solder Thickness on Fracture Behavior of Al/Ni Reactively-Bonded Solder Joints for Reliability of MEMS
焊料厚度对 MEMS 可靠性 Al/Ni 反应键合焊点断裂行为的影响
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:K. Kuwahara;S. Kanetsuki;S. Miyake;S. Inoue;and T. Namazu
- 通讯作者:and T. Namazu
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- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Shugo Miyake;Rino Yamamoto;Shunsuke Kanetsuki;Takahiro Namazu and Tomoyuki Koganezawa
- 通讯作者:Takahiro Namazu and Tomoyuki Koganezawa
Effect of thickening outermost layers in Al/Ni multilayer film on thermal resistance of reactively bonded solder joints
- DOI:10.7567/jjap.56.06gn16
- 发表时间:2017-06-01
- 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:Kanetsuki, Shunsuke;Kuwahara, Koichi;Namazu, Takahiro
- 通讯作者:Namazu, Takahiro
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