3D-Kalibrierung und hochgenaue Vermessung von abbildenden Systemen

Ziel dieses Projektes ist die Verbesserung der Kalibrierung optischer Linsen systeme durch ein vertieftes Verständnis der zugrunde liegenden theoretischen Zusammenhänge - u. a.它帮助我们更好地了解光学教育。这并不意味着，由于光学信息系统的数据质量是由最基本的几何参数确定的，因此，我们将在规则中使用基于校正多项式的经典摄影测量模型。质量高的光学仪器的可靠性将随着时间的推移而不断提高。Für Objektive mit kurzer Brennweite und großer turtur treten jedoch Artefakte durch nicht- oder überkompensierte Verzeichnungen auf.在经典摄影测量模型中，这些外测韦尔登在铁条上没有可变性。如果使用带有冷却器的Brennweite进行目标测试，则必须使用一个大的Schärfentiefe，以使Nutzbarmachung在完整的体积中保持韦尔登。由于气象系统的技术加权可以使气象数据的采集变得非常韦尔登，因此，气象数据采集结果的分类摄影测量参数不能再精确韦尔登。Darum ist es nötig，entweder eine Erweiterung des zugrunde liegenden analytischen Models or der eine hoch auflösende numerische Beschreibung der Verzeichnungen des Messfeldes zu gewährleisten.在工业生产中，3D光学测量技术的发展是一个非常重要的过程，它也是一个技术上的进步，它使我们的工作符合标准，并使我们的目标能够更好地实现。

Ziel dieses Projektes ist die Verbesserung der Kalibrierung optischer Linsensysteme durch ein vertieftes Verständnis der zugrunde liegenden theoretischen Zusammenhänge - u. a. nit Hilfe hoch auflösender Vermessung der optischen Abbildungseigenschaften. Das ist notwendig, weil die Qualität der mit optischen Messsystemen gemessenen Daten in besonderem Maße von der Bestimmung zugrunde liegender, kalibrierter Modellparameter abhängt, wobei derzeit in der Regel auf Modelle aus der klassischen Photogrammetrie mit Korrekturpolynomen zurückgegriffen wird. Das Verhalten von qualitativ hochwertigen Optiken mit begrenzter Apertur wird mit diesem Ansatz meist hinreichend beschrieben. Für Objektive mit kurzer Brennweite und großer Apertur treten jedoch Artefakte durch nicht- oder überkompensierte Verzeichnungen auf. Des Weiteren werden in den klassischen photogrammetrischen Modellen keine Variabilitäten in der Tiefe erfasst. Gerade bei Verwendung von Objektiven mit kurzer Brennweite hat man aber eine große Schärfentiefe, die zur Nutzbarmachung im kompletten Volumen kalibriert werden muss. Im Laufe der technischen Weiterentwicklung der Messsysteme konnte die Auflösung der Rohdaten stark gesteigert werden, so dass die klassischen photogrammetrischen Parameter der resultierenden Genauigkeit der Rohdatenauflösung nicht mehr gerecht werden. Darum ist es nötig, entweder eine Erweiterung des zugrunde liegenden analytischen Modells oder eine hoch auflösende numerische Beschreibung der Verzeichnungen des Messfeldes zu gewährleisten. Hintergrund dieser Entwicklungen ist das verstärkte Eindringen der optischen 3D-Messtechniken in die produzierende Industrie, mit dem auch die Anforderungen an diese Technik hinsichtlich der Rückführbarkeit ihrer Ergebnisse auf geltende Standards steigen, um reproduzierbar mit gleich bleibend hoher Genauigkeit Objekte prüfen zu können.