3D-Kalibrierung und hochgenaue Vermessung von abbildenden Systemen

他说：“这是一种新的选择，因为这是一种可能。”作为一个新的发现，我们将从客户的需求中获得最优信息的质量，以及模型的参数ABHängt、模型的质量和摄影测量的质量。这是最好的选择，也是最好的选择。Für Objektive MIT Kurzer Brennweite and Goçer Aperur Treten Jedoch Artefakte duch nch nht-oderüberkompensierte Verzeichnungen auf.DES Weiteren是在Der Tiefe erFasst的Den Kassischen Photogram Rischen Moellen keine Variablitäten。他说：“我不知道你的名字是什么，我不知道你是谁。”我是Laufe der Technischen Weiterentwickung der Messsystem e Konnte AuflöSong der Rohdaten stark gesteigert，所以他的摄影技术参数和Rohdatenauflöung的Mehr Gerecht是一样的。在此基础上，提出了一种新的分析方法，并对其进行了详细的分析。在产品的生产中，MIT的3D-Messtechniken和MIT的Das verstärkte Eindringen der optischen 3D-Mestischiken，MIT Dem auch die Anforderungen an diese Technik hinsichtlich der Rück führbarkeit ihrer Ergebnisse auf Geltende Standard Steigen，um reproduzierbar MIT Gleich bleibend Hoher Genauigkeit Objekte puünnen。

Ziel dieses Projektes ist die Verbesserung der Kalibrierung optischer Linsensysteme durch ein vertieftes Verständnis der zugrunde liegenden theoretischen Zusammenhänge - u. a. nit Hilfe hoch auflösender Vermessung der optischen Abbildungseigenschaften. Das ist notwendig, weil die Qualität der mit optischen Messsystemen gemessenen Daten in besonderem Maße von der Bestimmung zugrunde liegender, kalibrierter Modellparameter abhängt, wobei derzeit in der Regel auf Modelle aus der klassischen Photogrammetrie mit Korrekturpolynomen zurückgegriffen wird. Das Verhalten von qualitativ hochwertigen Optiken mit begrenzter Apertur wird mit diesem Ansatz meist hinreichend beschrieben. Für Objektive mit kurzer Brennweite und großer Apertur treten jedoch Artefakte durch nicht- oder überkompensierte Verzeichnungen auf. Des Weiteren werden in den klassischen photogrammetrischen Modellen keine Variabilitäten in der Tiefe erfasst. Gerade bei Verwendung von Objektiven mit kurzer Brennweite hat man aber eine große Schärfentiefe, die zur Nutzbarmachung im kompletten Volumen kalibriert werden muss. Im Laufe der technischen Weiterentwicklung der Messsysteme konnte die Auflösung der Rohdaten stark gesteigert werden, so dass die klassischen photogrammetrischen Parameter der resultierenden Genauigkeit der Rohdatenauflösung nicht mehr gerecht werden. Darum ist es nötig, entweder eine Erweiterung des zugrunde liegenden analytischen Modells oder eine hoch auflösende numerische Beschreibung der Verzeichnungen des Messfeldes zu gewährleisten. Hintergrund dieser Entwicklungen ist das verstärkte Eindringen der optischen 3D-Messtechniken in die produzierende Industrie, mit dem auch die Anforderungen an diese Technik hinsichtlich der Rückführbarkeit ihrer Ergebnisse auf geltende Standards steigen, um reproduzierbar mit gleich bleibend hoher Genauigkeit Objekte prüfen zu können.