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Open Defect Detection at Interconnects among IC Chips with Relaxation Oscilators

Open Defect Detection at Interconnects among IC Chips with Relaxation Oscilators
具有张弛振荡器的 IC 芯片互连处的开路缺陷检测
批准号：
17H01715
负责人：
HASHIZUME Masaki
金额：
$10.82万
依托单位：
The University of Tokushima
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2017-04-01 至 2021-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17H01715/
关键词：
電気検査法断線電流テスト３次元積層ICアセンブリ基板インターコネクトテスト実装基板回路欠陥検出法電気的検査法計算機システムディペンダブル・コンピューティング電子デバイス・機器予兆検出抵抗断線破断検出

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DOI： --
发表时间： 2019
期刊：
影响因子： --
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通讯作者： Shyue-Kung Lu
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发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [Miyatake Noriko, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Tetsuo Tada]
通讯作者： Hiroshi Yokoyama and Tetsuo Tada
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通讯作者： Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
共 27 条
    Dynamic Supply Current Test Method with Built-in IDDT Appearance Time Sensor
    • 批准号：
      24650021
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $1.83万
    • 财政年份：
      2012
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    Supply Current Testable Design of DACs in SoCs
    • 批准号：
      22650009
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $1.52万
    • 财政年份：
      2010
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs
    • 批准号：
      18500039
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $2.58万
    • 财政年份：
      2006
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    Electrical Testing of Open Defects in Deep Sub-micron CMOS Logic Circuits
    • 批准号：
      15500041
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $1.86万
    • 财政年份：
      2003
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    海外基金