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Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs

Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs
当前 SoC 和 SiP 中的开路和短路测试
批准号：
18500039
负责人：
HASHIZUME Masaki
金额：
$2.58万
依托单位：
The University of Tokushima
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2006
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2006 至 2008
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18500039/
关键词：
SoC, SiPディペンダブルコンピューティング断線短絡電流テストSoCSiPCMOSリード浮きマイクロコンピュータ

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项目成果

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SoC(System on a Chip), SiP(System in Package)というICおよびそれらを用いた回路製造時に断線や短絡故障が発生する。近年, それらの応用製品の高信頼化要求が高まり, それらの故障を確実に発見する検査法の開発が求められている。本研究ではIC, 回路への電源電流測定によりそれを実現する検査法と検査回路の開発を行い, 従来では見逃す故障も発見できることを明らかにした。
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会议论文
交流電界印加時の電流テストによる CMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
施加交流电场时，通过电流测试检测CMOS LSI的浮置引线的施加交流电压
DOI： --
发表时间： 2007
期刊： エレクトロニクス実装学会誌 Vol.8, No.3
影响因子： --
作者： [高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之]
通讯作者： 四柳浩之
CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法
使用CMOS门电路作为断线传感器的元件接合不良检测方法
DOI： --
发表时间： 2009
期刊： エレクトロニクス実装学会誌 12
影响因子： --
作者： [Akira Osada, Daigo Ozawa, Haruhiko Kaiya, and Kenji Kaijiri, M.Machida, M. Machida, 小野 安季良]
通讯作者： 小野 安季良
PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム
PIC16F84A总线故障实时测试程序
DOI： --
发表时间： 2008
期刊：
影响因子： --
作者： [加藤健二, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹, 嶋本 竜也]
通讯作者： 嶋本 竜也
Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics
用于定位 QFP 集成电路开路引线的测试电路
DOI： --
发表时间： 2008
期刊：
影响因子： --
作者： [Masaki Hashizume, Akihito Shimoura, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi]
通讯作者： Hiroyuki Yotsuyanagi
共 14 条
    Open Defect Detection at Interconnects among IC Chips with Relaxation Oscilators
    • 批准号：
      17H01715
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $10.82万
    • 财政年份：
      2017
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    Dynamic Supply Current Test Method with Built-in IDDT Appearance Time Sensor
    • 批准号：
      24650021
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $1.83万
    • 财政年份：
      2012
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    Supply Current Testable Design of DACs in SoCs
    • 批准号：
      22650009
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $1.52万
    • 财政年份：
      2010
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    Electrical Testing of Open Defects in Deep Sub-micron CMOS Logic Circuits
    • 批准号：
      15500041
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $1.86万
    • 财政年份：
      2003
    • 负责人：
      HASHIZUME Masaki
    • 依托单位：
      The University of Tokushima
    海外基金