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Dynamic Supply Current Test Method with Built-in IDDT Appearance Time Sensor

Dynamic Supply Current Test Method with Built-in IDDT Appearance Time Sensor
内置 IDDT 出现时间传感器的动态电源电流测试方法
批准号：
24650021
负责人：
HASHIZUME Masaki
金额：
$1.83万
依托单位：
The University of Tokushima
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2014-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-24650021/
关键词：
断線電流テストICIDDTテスト電流センサ回路遅延故障CMOS動的電源電流動的電源電圧変動短絡CMOS　IC

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A built-in test circuit is proposed to detect an open defect in a CMOS IC by means of appearance time of dynamic supply current of the IC. Also, a test method based on the dynamic supply current with on the test circuit is proposed. A layout of an IC embedding the test circuit has been designed and an IC has been prototyped. It is shown by Spice simulation and some experiments that an open defect in the IC can be detected by the test method.
期刊论文(8)
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会议论文
A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs
用于 CMOS IC IDDT 测试的内置传感器
DOI： --
发表时间： 2012
期刊： Proc. of 2012 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
影响因子： --
作者： [Shohei Suenaga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume]
通讯作者： Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件
内置IDDT出现时间检测电路检测开路故障的要求
DOI： --
发表时间： 2012
期刊：
影响因子： --
作者： [末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹]
通讯作者： 橋爪正樹
A Built-in Test Circuit for Detecting Open Defects by IDDT Appearance Time in CMOS ICs
一种利用IDDT出现时间检测CMOS IC开路缺陷的内置测试电路
DOI： --
发表时间： 2014
期刊： Proc. of International Conference on Design & Concurrent Engineering 2014
影响因子： --
作者： [Masaki Hashizume, Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi]
通讯作者： Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi
Built-in IDDT Appearance Time Sensor for Detecting Open Faults in 3D IC
内置 IDDT 出现时间传感器，用于检测 3D IC 中的开路故障
DOI： --
发表时间： 2013
期刊： Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan(ICSJ2013)
影响因子： --
作者： [Shohei Suenaga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu]
通讯作者： Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu
Open Defect Detection at Interconnects among IC Chips with Relaxation Oscilators
  • 批准号：
    17H01715
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $10.82万
  • 财政年份：
    2017
  • 负责人：
    HASHIZUME Masaki
  • 依托单位：
    The University of Tokushima
Supply Current Testable Design of DACs in SoCs
  • 批准号：
    22650009
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 资助金额：
    $1.52万
  • 财政年份：
    2010
  • 负责人：
    HASHIZUME Masaki
  • 依托单位：
    The University of Tokushima
Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs
  • 批准号：
    18500039
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额：
    $2.58万
  • 财政年份：
    2006
  • 负责人：
    HASHIZUME Masaki
  • 依托单位：
    The University of Tokushima
Electrical Testing of Open Defects in Deep Sub-micron CMOS Logic Circuits
  • 批准号：
    15500041
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额：
    $1.86万
  • 财政年份：
    2003
  • 负责人：
    HASHIZUME Masaki
  • 依托单位：
    The University of Tokushima
海外基金