高迁移率长寿命SiC MISFET研究

批准号:
60176030
项目类别:
面上项目
资助金额:
21.0 万元
负责人:
徐静平
依托单位:
学科分类:
F0404.半导体电子器件与集成
结题年份:
2004
批准年份:
2001
项目状态:
已结题
项目参与者:
郑远开、刘刚、王宁章、高俊雄、颜冲、余志文
国基评审专家1V1指导 中标率高出同行96.8%
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中文摘要
研究高迁移率长寿命SiCMISFET核心技术一高质量栅介质及平坦、低界面态密度MIS界面的制备。将发展有效的SiC表面原位钝化技术、快速CVD淀积技术以及干/湿氧退火技术,并采用掠钡母春险そ橹式峁梗兄瞥龈叻葱凸档狼ㄒ坡屎统て骷倜黃iCMISFET原型样品。为其实用化奠定基础,对我国高温电子学、航空领域以及国防和军事工业将产业重要影响,应用前景广阔。
英文摘要
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专利列表
高稳定低功耗陡峭斜率免回滞MoS2负电容场效应晶体管研究
- 批准号:61974048
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:59.0万元
- 批准年份:2019
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
高性能双栅高k介质MoS2场效应晶体管的介质屏蔽效应及界面工程
- 批准号:61774064
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:67.0万元
- 批准年份:2017
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
小尺寸HfTiO/TaON/GeON堆栈高k栅介质GeOI基MOSFET研究
- 批准号:61274112
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:80.0万元
- 批准年份:2012
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
小尺寸超薄HfTiON/GGO堆栈高k栅介质InGaAs nMOSFET研究
- 批准号:61176100
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:70.0万元
- 批准年份:2011
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
小尺寸低压高速长保持力电荷陷阱型悬浮栅存储器的研究
- 批准号:60976091
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:39.0万元
- 批准年份:2009
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
小尺寸超薄HfTiO/GeON叠层高k栅介质Ge基MOSFET研究
- 批准号:60776016
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:32.0万元
- 批准年份:2007
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
小尺寸超薄叠层高k栅介质Si/Ge MOSFET研究
- 批准号:60576021
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:7.0万元
- 批准年份:2005
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
低漏电高性能纳米级叠层氮化高k栅介质MOSFET研究
- 批准号:60376019
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:26.0万元
- 批准年份:2003
- 负责人:徐静平
- 依托单位:
国内基金
海外基金
