Dual-Beam Focused Ion Beam (FIB)

“Die AG Elektronenmikroskopie betreibt am Department Werkstoffwissenschaften ein Labor mit drei Transmissionselektronenmikroskopen，darunter das im Rahmen des Exzellenzclusters Engineering of Advanced Materials（EXC 315）beschaffte aberrationskorrigierte Gerät.在他的研究中，我们的工作组是一个现代化的技术工程师，他们具有特殊的材料特性。这里是一个材料科学领域的权威机构，它有一个共同的目标。Die beantragte Dual-beam FIB stelt ein essenzielles Tool für die Zielpreäparation von TEM-Proben dar und wird von der Arbeitsgruppe für ihre vielseitigen Arbeiten dringend benötigt.比斯朗最好是一个简单的（和更简单的）动作。Wichtige FIB-Anwendungen betreffen u.a. (i)die Zielpräparation ausgewählter Probenbereiche mittels lift-out，（ii）das Schneiden von Kompositen und Schichtstrukturen aus harten und weichen Materialien，（iii）die gezielte TEM-Querschnittspäparation einzelner Nanopartikel（shadow-FIB Eigenentwicklung），（iv）die Herstellung von Säulenstrukturen für die 360°-Elektronentomaphie，（iv）das Schneiden unteriedlicher Probengeometrien für in situ nanomechanisches Testen im TEM. FIB将通过AG电子显微镜的工作人员进行检查。Verbleibende Nutzungszeiten sollen in der CENEM-Nutzereinrichtung eingesetzt韦尔登.“

„Die AG Elektronenmikroskopie betreibt am Department Werkstoffwissenschaften ein Labor mit drei Transmissionselektronenmikroskopen, darunter das im Rahmen des Exzellenzclusters Engineering of Advanced Materials (EXC 315) beschaffte aberrationskorrigierte Gerät. In ihrer Forschung nutzt die Arbeitsgruppe die breite Palette moderner TEM-Verfahren zur mikroskopischen Charakterisierung unterschiedlichster Materialen. Hierbei ist sie in eine Reihe materialwissenschaftlich ausgerichteter Verbundprojekte eingebunden. Die beantragte Dual-beam FIB stellt ein essenzielles Tool für die Zielpräparation von TEM-Proben dar und wird von der Arbeitsgruppe für ihre vielseitigen Arbeiten dringend benötigt. Bislang bestand nur eingeschränkt (und übergangsweise) Zugang zu einem solchen Gerät. Wichtige FIB-Anwendungen betreffen u.a. (i) die Zielpräparation ausgewählter Probenbereiche mittels lift-out, (ii) das Schneiden von Kompositen und Schichtstrukturen aus harten und weichen Materialien, (iii) die gezielte TEM-Querschnittspräparation einzelner Nanopartikel (shadow-FIB Eigenentwicklung), (iv) die Herstellung von Säulenstrukturen für die 360°- Elektronentomographie, (iv) das Schneiden unterschiedlicher Probengeometrien für in-situ nanomechanisches Testen im TEM. Die FIB wird durch die Arbeiten der AG Elektronenmikroskopie weitgehend ausgelastet sein. Verbleibende Nutzungszeiten sollen in der CENEM-Nutzereinrichtung eingesetzt werden.“