Développement d'outils de simulation pour la qualification fiable de systèmes micro / nanoélectroniques en boitier de circuit intégré

《摩尔的生活》、《再加一次》、《Est en Train de Mener la MicroéElectrtronique VS un niveau inconconu de Complitéé，Caractérisépar une Minimitation en Models》(as la fois du point de vue géométrique et temporel)，多材料/界面，多功能，多技术，多领域/多缺陷。发展趋势技术，结合商业趋势，关于复杂的概念的产生，一个可考虑的概念的过程，一个可能的S和缺点的增强，一个困难的S获得的是有资格和有能力的紧急情况。*实现，工业并不是一种可能的处置方式，而是一种近似于S的价值评估方法。S的储备库L的经验和L的批准，批准了基础帝国的面值，重要的是产生了S的价值，这是最不可或缺的。S的科学研究成果在微米/纳米技术领域得到了广泛的应用，也为企业发展和创新提供了新的途径，而不是仅仅局限于价值评估。*L的目标是研究基础设施的开发、方法和实践，以及工业、工业、工业和产品的质量、质量、质量和质量。*没有对象包括可预测的技术和领域、现代化的技术和技术、以及最终的资格鉴定。**

La loi de Moore, et plus encore, est en train de mener la microélectronique vers un niveau inconnu de complexité, caractérisé par une miniaturisation en modes multi-échelles (à la fois du point de vue géométrique et temporel), multi-matériaux/interfaces, multifonctionnalité, multi-technologies, et multi-dommages/défaillances. Ces tendances de développement technologique, en combinaison avec les tendances commerciales, aboutissent à une complexité de conception accrue, une réduction considérable des marges de conception, une augmentation des possibilités et conséquences de défaillances, ainsi que des difficultés accrues à répondre aux exigences de qualité et de fiabilité requises. ***Actuellement, les industriels n'ont pas à leur disposition d'outils appropriés pour évaluer efficacement la fiabilité. Ceux utilisés reposent sur l'expérience et l'approche par tâtonnement sur une base empirique, phénoménologique et au cas-par-cas, engendrant des délais importants et des coûts élevés.***Pour répondre aux besoins de la microélectronique, le développement d'une nouvelle approche d'évaluation de la fiabilité fondée sur les connaissances est indispensable. Les progrès scientifiques récents enregistrés dans le domaine des micro/nanotechnologies, ne permettent malheureusement pas le développement d'un plan d'affaires réussi sans percées innovatrices sur la façon dont nous abordons la fiabilité à travers la chaine complète d'évaluation. ***L'objectif de la présente programme de recherche est de développer des connaissances fondamentales, des méthodologies et pratiques de pointe qui permettront aux industriels de prédire, caractériser, concevoir et optimiser en amont la fiabilité des produits microélectronique, afin d'éviter des investissements majeurs au niveau de la fabrication, prototypage et essais de qualification. ***Nos objectifs de recherche couvriront le développement d'une méthodologie de caractérisation virtuelle incluant une prédiction fiable des défaillances et dommages, de même que la mise au point d'une technique de modélisation, d'un ensemble de données références pour les essais ainsi que la mise en oeuvre finale des outils de qualification virtuelle.**