Développement d'outils de simulation pour la qualification fiable de systèmes micro / nanoélectroniques en boitier de circuit intégré

摩尔标准、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件、附加附加条件。这些趋势与商业趋势相结合，包括复杂的、复杂的、复杂的、相当大的、复杂的、扩大的可能性、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、复杂的、质量的和可负担的。实际上，工业部门并没有采取适当的处理办法，使其能够有效地发挥其作用。<s:1>效用- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -在电子微交换器、电子电子交换器、电子电子交换器、电子电子交换器、电子电子交换器、电子电子交换器和电子电子交换器中，电子电子交换器是必不可少的。在微/纳米技术领域，技术进步与技术进步是同步的，技术进步与技术进步是同步的，技术进步与技术进步是同步的，技术进步与技术进步是同步的，技术进步与技术进步是同步的，技术进步与技术进步是同步的。L目的是de la现在计划de矫揉造作的est de开发des connaissances fondamentales, des方法等实际应用的黑在permettront辅助industriels de predire caracteriser, concevoir等优化器在阿蒙山崖la fiabilite des的microelectronique, afin d 'eviter des investissements majeurs层面de la制造、prototypage et essais de资格。无目标的研究，包括无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究，无目标的研究。

La loi de Moore, et plus encore, est en train de mener la microélectronique vers un niveau inconnu de complexité, caractérisé par une miniaturisation en modes multi-échelles (à la fois du point de vue géométrique et temporel), multi-matériaux/interfaces, multifonctionnalité, multi-technologies, et multi-dommages/défaillances. Ces tendances de développement technologique, en combinaison avec les tendances commerciales, aboutissent à une complexité de conception accrue, une réduction considérable des marges de conception, une augmentation des possibilités et conséquences de défaillances, ainsi que des difficultés accrues à répondre aux exigences de qualité et de fiabilité requises. Actuellement, les industriels n'ont pas à leur disposition d'outils appropriés pour évaluer efficacement la fiabilité. Ceux utilisés reposent sur l'expérience et l'approche par tâtonnement sur une base empirique, phénoménologique et au cas-par-cas, engendrant des délais importants et des coûts élevés. Pour répondre aux besoins de la microélectronique, le développement d'une nouvelle approche d'évaluation de la fiabilité fondée sur les connaissances est indispensable. Les progrès scientifiques récents enregistrés dans le domaine des micro/nanotechnologies, ne permettent malheureusement pas le développement d'un plan d'affaires réussi sans percées innovatrices sur la façon dont nous abordons la fiabilité à travers la chaine complète d'évaluation. L'objectif de la présente programme de recherche est de développer des connaissances fondamentales, des méthodologies et pratiques de pointe qui permettront aux industriels de prédire, caractériser, concevoir et optimiser en amont la fiabilité des produits microélectronique, afin d'éviter des investissements majeurs au niveau de la fabrication, prototypage et essais de qualification. Nos objectifs de recherche couvriront le développement d'une méthodologie de caractérisation virtuelle incluant une prédiction fiable des défaillances et dommages, de même que la mise au point d'une technique de modélisation, d'un ensemble de données références pour les essais ainsi que la mise en ouvre finale des outils de qualification virtuelle.