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Surface Analysis and X-Ray Diffraction Equipment
表面分析和 X 射线衍射设备
基本信息
- 批准号：7925756
- 负责人：
- 金额：$ 6.35万
- 依托单位：
- 依托单位国家：美国
- 项目类别：Standard Grant
- 财政年份：1980
- 资助国家：美国
- 起止时间：1980-04-01 至 1982-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（0）
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Thomas Shelton其他文献
Surgical Complications in the Management of Benign Prostatic Hyperplasia Treatment
- DOI：
10.1007/s11934-022-01091-z - 发表时间：
2022-03-09 - 期刊：
- 影响因子：2.900
- 作者：
Nicholas Ottaiano;Thomas Shelton;Ganesh Sanekommu;Cooper R. Benson - 通讯作者：
Cooper R. Benson
Thomas Shelton的其他文献
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- DOI：
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相似国自然基金
Scalable Learning and Optimization: High-dimensional Models and Online Decision-Making Strategies for Big Data Analysis
- 批准号：
- 批准年份：2024
- 资助金额：万元
- 项目类别：合作创新研究团队
Intelligent Patent Analysis for Optimized Technology Stack Selection:Blockchain BusinessRegistry Case Demonstration
- 批准号：
- 批准年份：2024
- 资助金额：万元
- 项目类别：外国学者研究基金项目
基于Meta-analysis的新疆棉花灌水增产模型研究
- 批准号：41601604
- 批准年份：2016
- 资助金额：22.0 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
大规模微阵列数据组的meta-analysis方法研究
- 批准号：31100958
- 批准年份：2011
- 资助金额：20.0 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
用“后合成核磁共振分析”（retrobiosynthetic NMR analysis）技术阐明青蒿素生物合成途径
- 批准号：30470153
- 批准年份：2004
- 资助金额：22.0 万元
- 项目类别：面上项目
相似海外基金
Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
高精度表面界面结构分析X射线反射率法的改进研究
- 批准号：
18K04938 - 财政年份：2018
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Surface Analysis Platform: X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) (Z01)
表面分析平台：X射线光电子能谱（XPS）和飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）（Z01）
- 批准号：
283793724 - 财政年份：2016
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Collaborative Research Centres
MRI: Acquisition of a Near Ambient Pressure X-ray Photoelectron Spectroscopy System to Enable Active Near-Surface and Interface Analysis
MRI：获取近环境压力 X 射线光电子能谱系统，以实现主动近表面和界面分析
- 批准号：
1429765 - 财政年份：2014
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Standard Grant
Energy-dispersive analysis of near surface residual stress and microstructure gradients by means of conventional laboratory X-ray sources
利用传统实验室 X 射线源对近表面残余应力和微观结构梯度进行能量色散分析
- 批准号：
261596039 - 财政年份：2014
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Research Grants
Model-free structure analysis of a solid surface by synchrotron X-ray diffraction
通过同步加速器 X 射线衍射对固体表面进行无模型结构分析
- 批准号：
26390121 - 财政年份：2014
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Analysis of precise electron density of topological insulator thin films by applying direct methods to surface X-ray diffraction
应用表面 X 射线衍射直接法精确分析拓扑绝缘体薄膜的电子密度
- 批准号：
25246026 - 财政年份：2013
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Analysis and assessment of residual stress components normal to the surface by X-ray diffraction techniques
通过 X 射线衍射技术分析和评估垂直于表面的残余应力分量
- 批准号：
231968279 - 财政年份：2012
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Research Grants
Development for X-ray crystal structure analysis of a surface-shallow layer and epitaxial growth of single-crystal thin film
表面浅层X射线晶体结构分析及单晶薄膜外延生长的研究进展
- 批准号：
23350012 - 财政年份：2011
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
MRI-R2: Acquisition of an X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Surface Analysis Instrumentation for Enabling Research and Education in Greater Philadlephia
MRI-R2：购买 X 射线光电子能谱 (XPS) 表面分析仪器，以促进大费城的研究和教育
- 批准号：
0959361 - 财政年份：2010
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Standard Grant
In-situ analysis of the growing surface by two dimensional detection of x-ray scattering at small glancing angle incidence
通过小掠射角入射时 X 射线散射的二维检测对生长表面进行原位分析
- 批准号：
13650012 - 财政年份：2001
- 资助金额：
$ 6.35万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)