Acquisition of an X-ray Diffractometer for the Study of Thin Films and Nanostructured Materials
购买用于研究薄膜和纳米结构材料的 X 射线衍射仪
基本信息
- 批准号:9871147
- 负责人:
- 金额:$ 17万
- 依托单位:
- 依托单位国家:美国
- 项目类别:Standard Grant
- 财政年份:1998
- 资助国家:美国
- 起止时间:1998-09-01 至 1999-08-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
ABSTRACT CTS-9871147 Hadis Morkoc, Gary E. Wnek, Mohamed S. El-Shall, Alison A. Baski, John A. Carlisle Srinivasan Virginia Commonwealth University Title: Acquisition of an X-Ray Diffractometer for the Study of Thin Films and Nanostructured Materials The Virginia Microelectronics Center at the Virginia Commonwealth University will purchase a Philips X'PERT Materials Research Diffractometer for the study of nanostructured materials, research training of graduate and undergraduate students in Electrical Engineering, Physics, Chemistry, and Chemical Engineering, and for materials characterization training of students of semiconductor science and technology. The instrument will be made available to local community colleges and high schools. Research projects will include: deposition of In,Al-GaN heterostructures by molecular beam epitaxy and organometallic vapor phase epitaxy (Morkoc); structure of thin-film semiconductor/metal multilayers (Carlisle and Baski); structure of oxide and nitride nanoparticles (El-Shall); microphase structure of ion-conducting self-assembling block copolymer films (Wnek). The university will match 47% of the instrument cost. The apparatus will be managed by Dr. Morkoc.
摘要 CTS-9871147 Hadis Morkoc,加里E.穆罕默德?韦内克作者声明:A. Baski,John A.卡莱尔斯里尼瓦桑弗吉尼亚联邦大学 标题:获得用于薄膜和纳米结构材料研究的X射线衍射仪 弗吉尼亚联邦大学的弗吉尼亚微电子中心将购买一台飞利浦X 'PERT材料研究衍射仪,用于纳米结构材料的研究,电气工程、物理、化学和化学工程专业研究生和本科生的研究培训,以及半导体科学和技术专业学生的材料表征培训。该工具将提供给当地社区学院和高中。研究项目将包括:通过分子束外延和有机金属气相外延(Morkoc)沉积In、Al-GaN异质结构;薄膜半导体/金属多层膜的结构(卡莱尔和Baski);氧化物和氮化物纳米颗粒的结构(El-Shall);离子传导自组装嵌段共聚物膜的微相结构(Wnek)。大学将承担仪器成本的47%。该设备将由Morkoc博士管理。
项目成果
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