Direktes Wachstum von CdTe Detektor - Schichten auf einer CMOS basierten Auslese - Elektronik
Direktes Wachstum von CdTe Detektor - Schichten auf einer CMOS basierten Auslese - Elektronik
批准号:
173047358
负责人:
Professor Dr. Michael Fiederle
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2011
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2010-12-31 至 2014-12-31
中文摘要
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英文摘要
Ziel dieses Projekts ist die Entwicklung von großflächigen Röntgenbilddetektoren für die medizinische Röntgendiagnostik mithilfe polykristalliner CdTe-Schichten als direktes Konvertermaterial. Um dies zu erreichen sollen die CdTe-Schichten direkt auf einer Pixelauslese-Elektronik über die Gasphase aufgewachsen werden. Neben dem direkten Wachstum auf der Auslese-Elektronik soll CdTe auf strukturierten und nicht strukturierten, thermisch oxidierten Siliziumwafern abgeschieden werden, um aussagekräftige Messungen (beispielsweise Photoelektronenspektroskopie, elektrische Messungen) an übertragbaren einfachen Schichtstrukturen zu erhalten. Zudem sollen die mit Metallkontakten strukturierten Substrate ein selektives Anwachsen von CdTe und damit eine Vergrößerung der Korngröße ermöglichen. Somit sollen grundlegende Erkenntnisse des Zusammenhangs zwischen Korngröße und erreichbarer Detektoreffizienz gewonnen werden. Als Auslese – Elektronik soll der Medipix2 Auslesechip (photonenzählender Pixeldetektor) der Medipix Collaboration des CERN verwendet werden. Die Medipix2 Auslese-Elektronik hält eine Temperatur von 375°C über mehrere Stunden stand und bietet zusätzlich mit 55 x 55 μm² Pixelgröße eine hohe Ortsauflösung. Somit sind sowohl Herstellung als auch Charakterisierung der Detektorschichten mit diesem Chip möglich. Ein Schwerpunkt der Arbeiten liegt in der Entwicklung genügend dicker Schichten bis 600 μm, die bei geringen Substrat – Temperaturen bis max. 400°C gewachsen werden, um später die CMOS Auslese – Elektronik nicht zu beschädigen. Um möglichst hohe Bias- Spannungen an die Konverterschicht anlegen zu können, soll eine M-π-p Struktur verwendet werden. Diese erfordert nicht injizierende Kontakte mit hoher chemischer und thermischer Beständigkeit. An diesen Schichtstrukturen stehen Untersuchungen zum Einfluss der Korngröße auf die erreichbare Detektoreffizienz und Versuche die Korngröße zu vergrößern im Vordergrund. Ein weiterer Schwerpunkt liegt in der Entwicklung und dem Aufbau einer PVD Anlage, die hohe Wachstumsraten und damit die gewünschten Schichtdicken bis 600 μm ermöglicht.
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专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI:
10.1109/nssmic.2014.7431269
发表时间:
2014-11
期刊:
2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC)
影响因子:
--
作者:
[A. Vogt;S. Schutt;F. Fischer;C. Disch;S. Procz;Y. Lu;M. Fiederle]
通讯作者:
A. Vogt;S. Schutt;F. Fischer;C. Disch;S. Procz;Y. Lu;M. Fiederle
Kristallzüchtung von (Cd,Zn)Te durch Detached Bridgman Growth
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批准号:172278037
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2010
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负责人:Professor Dr. Michael Fiederle
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依托单位:
Design und Optimierung von CdZnTe Halbleiter-Detektoren für die Messung seltener Prozesse, insbesondere des doppelten Betazerfalls
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批准号:5419343
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2004
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负责人:Professor Dr. Michael Fiederle
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依托单位:
Herstellung von AlN-Volumenkristallen als Substrate für das Wachstum defektarmer(Al,Ga)N MBE-Schichten
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批准号:5418791
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2004
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负责人:Professor Dr. Michael Fiederle
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依托单位:
Vollspektroskopisches Timepix3 CT-System fürUntersuchungen von Materialien auf mesoskopischer Skala
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批准号:414141599
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项目类别:New Instrumentation for Research
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资助金额:$0.0万
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财政年份:--
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负责人:Professor Dr. Michael Fiederle
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依托单位:
海外基金