Doppelkorrigiertes analytisches TEM/STEM

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„Mit dem Wissenschaftsschwerpunkt Neue Materialien und Prozesse hat die Universität Erlangen-Nürnberg einen strategischen Fokus auf interdisziplinäre Materialforschung zwischen Natur- und Ingenieurswissenschaften gelegt. Dieser manifestiert sich im Exzellenzcluster Engineering of Advanced Materials (EXC315) sowie zahlreichen weiteren Verbundprojekten. Die hochauflösenden elektronenmikroskopischen Charakterisierungsverfahren stellen einen wichtigen Querschnittsbereich der Erlangener Materialforschung dar und werden von der AG Elektronenmikroskopie im neugegründeten Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM) intensiv eingesetzt. Seit 2009 betreibt die AG ein einfachkorrigiertes TEM/STEM und bringt dies erfolgreich in verschiedene Verbundprojekte ein. Um die stark zunehmenden Fragestellungen in der hochauflösenden Analytik, aber auch der in-situ Mikroskopie adressieren zu können, wird ein TEM/STEM mit Korrektor im Beleuchtungssystem, einer Quelle mit erhöhtem Richtstrahlwert, einer hohen Energieauflösung (Monochromator, hochauflösendes EEL-Spektrometer) und einem großflächigen EDX-Detektor (für schnelle Mappings und hohe Sensitivität) benötigt. Das beantragte doppeltkorrigierte Gerät vereint diese Möglichkeiten und soll das bestehende ersetzen (Rücknahme durch den Hersteller). Ein bereits bewilligtes abbildendes Energiefilter soll im gleichen Zuge beschafft und am neuen Gerät installiert werden.“