Establishment of gallium oxide manufacturing process for trench
Establishment of gallium oxide manufacturing process for trench
批准号:
18K04239
负责人:
SHINKAI Satoko
金额:
$2.75万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2018
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2018-04-01 至 2021-03-31
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エッチング条件によるβ-Ga2O3表面形態への影響
刻蚀条件对β-Ga2O3表面形貌的影响
DOI:
--
发表时间:
2020
期刊:
影响因子:
--
作者:
[永澤幹太, 深瀬晶予, 森 翔平, 荒川元孝, 八代 諭, 石垣 泰, 金井 浩, 森山裕貴,新海聡子]
通讯作者:
森山裕貴,新海聡子
低バイアスドライエッチングによる多結晶β-Ga2O3の表面粗さ評価
低偏压干法刻蚀评价多晶β-Ga2O3表面粗糙度
DOI:
--
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Pham Tien Dat, Atsushi Kanno, Keizo Inagaki, Francois Rottenberg, Jerome Louveaux, Naokatsu Yamamoto, Tetsuya Kawanishi, 森山裕貴,西山和輝,宇崎滉太,川棚湧貴,新海聡子]
通讯作者:
森山裕貴,西山和輝,宇崎滉太,川棚湧貴,新海聡子
ICP-RIEを使用したスキャロップ削減方法の検討
使用 ICP-RIE 减少扇贝方法的考虑
DOI:
--
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
作者:
[永澤幹太, 深瀬晶予, 森 翔平, 荒川元孝, 八代 諭, 石垣 泰, 金井 浩, Yuusuke Takashima ,Masanobu Haraguchi andYoshiki Naoi, 宇崎滉太,穴井宏樹,川棚湧貴,新海聡子]
通讯作者:
宇崎滉太,穴井宏樹,川棚湧貴,新海聡子
低バイアスICP-RIEによるn-GaN表面粗さ評価
通过低偏压 ICP-RIE 评估 n-GaN 表面粗糙度
DOI:
--
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
作者:
[宇﨑 滉太, 新海 聡子, 大槻 秀夫]
通讯作者:
大槻 秀夫
β-Ga2O3ドライエッチングにおけるドープ種の影響
掺杂种类对β-Ga2O3干法刻蚀的影响
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[梅沢俊匡, 吉田悠来, 菅野敦史, 山本直克, 川西哲也, 森山裕貴,新海聡子]
通讯作者:
森山裕貴,新海聡子
共 6 条
Characteristics of Ta diffusion barrier
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批准号:19760015
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$1.82万
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财政年份:2007
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负责人:SHINKAI Satoko
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依托单位:
海外基金