Nutzung lateraler Vibrationen und Oszillationen von AFM-Cantilevern zur Durchführung von Nanomanipulationen (NanoLatVib)

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Ziel des Projektes ist die Erweiterung und Erforschung eines auf Atomic-Force- Microscopy (AFM) basierenden Nanomanipulationsystems. Als Novum zu bereits existierenden Nanomanipulationsaufbauten wird im beantragten Projekt geplant, laterale Oszillationen (nicht-resonant) und laterale Vibrationen (resonant) des AFM-Cantilevers während der Manipulationen zu nutzen. Möglicherweise können stark am Substrat haftende Objekte durch Anwendung von lateralen Vibrationen mobilisiert werden. Ferner sollen laterale Vibrationen des Cantilevers genutzt werden, um längliche Nanoobjekte gezielt zu zerschneiden. Durch Nutzung von lateralen linearen Oszillationen der Cantilever-Spitze parallel zu längliche Nanoobjekten sollen diese zerstörungsfrei manipuliert werden. Ein neuartiger Zirkularmanipulations- Modus wird vorgeschlagen, mit dessen Hilfe Nanopartikel sehr kontrolliert verschoben werden können. Im Aufbau sollen piezoresistive Cantilever verwendet werden, wodurch die Detektion rein lateraler Vibrationen des Cantilevers ermöglicht wird. Die Idee, laterale Vibrationen der AFM-Spitze für Nanomanipulationen zu verwenden, ist unseres Wissens neu.