Eigenschaften funktionaler Strukturen auf der Nanoskala, hergestellt durch elektronen-strahlgestützte Verfahren.
Eigenschaften funktionaler Strukturen auf der Nanoskala, hergestellt durch elektronen-strahlgestützte Verfahren.
批准号:
170948727
负责人:
Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2010
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2009-12-31 至 2014-12-31
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英文摘要
Mit der elektronenstrahlinduzierten Materialabscheidung (electron beam induced deposition, EBiD) ist es möglich, feste, z. B. metallhaltige Strukturen mit Abmessungen im Bereich weniger zehn bis hundert Nanometer aus einer gasförmig bereitgestellten Precursor-Chemikalie direkt schreibend, also maskenlos auf einer Probenoberfläche zu erzeugen. Dieses Verfahren wird genutzt, um z. B. Objekte miteinander zu verbinden (Nanobonding), elektrische Leiterbahnen oder freistehende Strukturen zu erzeugen oder um fotolithografische Masken zu reparieren (siehe Stand der Forschung). Über die bisherige Nutzung des EBiD-Verfahrens in Form überwiegend passiver Strukturen hinaus ist im wachsenden Entwicklungsfeld mikro- und nanoskaliger elektromechanischer Systeme (MEMS und NEMS) sowie der Mikro- und Nanorobotik besonders die Herstellung nanoskaliger, funktionaler Strukturen mit sensorischen und aktorischen Ei-genschaften von Interesse. Dieses Arbeitsgebiet, insbesondere die MEMS und NEMS Entwicklung, wird gegenwärtig fast ausschließlich durch klassische Silicium-Mikromechanik (Wafer-Prozessierung) abgedeckt. Obwohl das EBiD-Verfahren durch sequentielles, direktes Schreiben der gewünschten Strukturen sehr viel zeitaufwändiger ist als die Silicium-Mikromechanik, bietet es deutliche Vorteile, die besonders bei einer Kombination beider Verfahren zum Tragen kommen. Beispielsweise können Bauteile, die in klassischer Silicium-Mikromechanik gefertigt werden, unabhängig von der in der Mikromechanik durch die Wafergeometrie und Wafer-Kristallstruktur vorgegebenen Fertigungsrichtung im Nachhinein mit funktionalisierenden Strukturen versehen werden.Die Funktionalität komplexer, z. B. sensorischer oder aktorischer Strukturen ist abhängig von verschiedenen Materialeigenschaften der Struktur selbst. Neben der in der Literatur sehr ausführlich beschriebenen elektrischen Eigenschaften elektronenstrahl-induzierter Abscheidungen sind sowohl mechanische als auch thermische Charakteristika von Interesse, die in der Regel von der Zusammensetzung und Morphologie des Materials abhängen. Da z. B. sensorische und aktorische Strukturen oftmals thermi-schen und mechanischen Belastungen ausgesetzt sind, ist die Kenntnis dieser Eigenschaften für eine präzise Modellierung der Strukturen unumgänglich.In diesem Projekt sollen aus oben genannten Gründen die mechanischen und thermischen Eigenschaften sowie die morphologische Zusammensetzung der aus zwei ausgewählten Precursoren abgeschiedenen Materialien ermittelt werden. Zudem soll deren Abhängigkeit von Prozessparametern während des Abscheideprozesses und der Alterung der erzeugten Strukturen untersucht werden. Die dabei erwarteten Ergebnisse ermöglichen ein detailliertes Verständnis des Abscheideprozesses und somit dessen Optimierung und Beeinflussung im Hinblick auf die Herstellung funktionaler Strukturen mit präzise definierten Eigenschaften.
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科研奖励(0)
会议论文
Assembly automation on the nanoscale
纳米级装配自动化
DOI:
10.1016/j.cirpj.2011.03.003
发表时间:
2011
期刊:
Cirp Journal of Manufacturing Science and Technology
影响因子:
4.8
作者:
[T. Wich, C. Stolle, T. Luttermann, S. Fatikow]
通讯作者:
S. Fatikow
Fast Broadband Scanning Microwave Microscopy (FABSMM)
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批准号:448404610
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2020
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Ultra Small Surface Force Measurements in Vacuum
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批准号:403719155
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2018
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Liquid Contact Probing inside the SEM
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批准号:381855500
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2017
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Scanning Probe Processing of 2D Materials
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批准号:315857893
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2016
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Vacuum Scanning Microwave Microscopy for quantitative characterization of sub-10 nm and atto-Farad scale capacitors and memories
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批准号:258650972
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2014
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Compensation of thermal drift effects in atomic force microscopy using probabilistic state estimation
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批准号:243221359
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2013
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Reliable Assembling of Colloidal Nanoparticles in Two and Three Dimensions by Dual-AFM-based Handling inside a Scanning Electron Microscope
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批准号:213422375
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2012
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Nutzung lateraler Vibrationen und Oszillationen von AFM-Cantilevern zur Durchführung von Nanomanipulationen (NanoLatVib)
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批准号:37292487
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2007
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Development of a Nanohandling Desktop Station for Nanocharacterization of CNTs and biological cells by a piezoresistive AFM Probe (NaDeSta)
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批准号:33155844
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2007
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Development of an SPM-based micro force sensor and its integration in a flexible micro robot
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批准号:5341890
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2001
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Entwicklung eines flexiblen Zweirobotersystems für die Mikrohandhabung im Rasterelektronenmikroskop
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批准号:5229194
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2000
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Liquid Metal Contact Angle Measurement in Vacuum
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批准号:451242348
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:--
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Nanowire-based Miniaturized Mechanical Transducers Designed for Surface Force Sensing
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批准号:509134333
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:--
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
Atomic Force Microscopy in Nanoplastics Research
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批准号:497034305
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:--
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负责人:Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow
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依托单位:
海外基金