Alignment Control and Electrical Coupling of High-density Si-based Quantum Dots

高密度硅基量子点的取向控制和电耦合

基本信息

  • 批准号:
    24246054
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 30.04万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
  • 财政年份:
    2012
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2012-04-01 至 2015-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(121)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
リモート水素プラズマ支援によるSiO2上へのFeシリサイドドットの高密度形成
利用远程氢等离子体支持在 SiO2 上高密度形成硅化铁点
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    張海;牧原克典;大田晃生;池田弥央;宮崎誠一
  • 通讯作者:
    宮崎誠一
High Density Formation of Mn and Mn-germanide Nanodots Induced by Remote Hydrogen Plasma
远程氢等离子体诱导高密度形成锰和锰锗化物纳米点
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Wen;K. Makihara;A. Ohta;M. Ikeda and S. Miyazaki
  • 通讯作者:
    M. Ikeda and S. Miyazaki
Transient Characteristics of Electroluminescence from Self-aligned Si-based Quantum Dots
自对准硅基量子点电致发光的瞬态特性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Suzuki;K. Makihara;M. Ikeda and S. Miyazaki
  • 通讯作者:
    M. Ikeda and S. Miyazaki
導電性AFM探針によるNiナノドット上に形成した高結晶性Ge:H薄膜の局所伝導評価
使用导电 AFM 尖端对 Ni 纳米点上形成的高度结晶 Ge:H 薄膜进行局部传导评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Yoshimura;S. Murakami;K. Kariya;and N. Fujimura;明賀聖慈;高金
  • 通讯作者:
    高金
光電子収率分光法によるSiO2/SiC界面の電子状態計測
使用光电子产率光谱测量 SiO2/SiC 界面的电子态
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    大田晃生;竹内大智;グェンスァンチュン;牧原克典;宮崎誠一
  • 通讯作者:
    宮崎誠一
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