Charakterisierung der elektronischen Struktur von adsorbierten Alkanen mittels resonanter Röntgenemissionsspektroskopie

点击翻译按钮获取中文摘要

Ziel des Forschungsvorhabens ist eine Charakterisierung der elektronischen Struktur von adsorbierten Alkanen. Hierfür sollen wohlgeordnete Monolagen aus C36H74 auf Cu(111) sowie C8H18 auf Cu(110) bzw. Ru(0001) präpariert werden und mittels resonanter Röntgenemissionsspektroskopie (XES) untersucht werden. Aus polarisationsabhängigen Messungen sollen Informationen über die Symmetrie der spektroskopierten Valenzorbitale gewonnen werden. Ein Schwerpunkt der Projekte besteht darin, bislang nicht eindeutig identifizierte elektronische Zustände adsorbierter Alkane zuzuordnen und den Bindungsmechanismus der verschiedenen Systeme zu charakterisieren. Weiterhin sollen industriell relevante Zeolithkatalysatoren (ZSM-5, H-ZSM-5) untersucht werden. Mit Hilfe von resonanter Röntgenemissionsspektroskopie soll erstmal die elektronische Struktur an den inneren Oberflächen dieser Zeolithe adsorbierter Alkane charakterisiert werden. Im Vordergrund stehen Messungen an Alkanen in Cu ausgetauschten H-ZSM-5-Katalysatoren, bei denen die an die innere Oberfläche der Zeolithe angelagerten Kupferatome die aktiven Zentren sind. Das Ziel dieser Untersuchungen ist es, die zur Adsorbtion von Alkanen auf äußeren Festkörperoberflächen erzielten Ergebnisse auch auf die interessanten Materialklassen der Zeolithe zu übertragen.