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Characterization of SiC-crystal growth by micro-Raman spectroscopy

Characterization of SiC-crystal growth by micro-Raman spectroscopy
通过显微拉曼光谱表征 SiC 晶体生长
批准号:
5368712
负责人:
Professor Dr. Martin Hundhausen
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Units
财政年份:
2002
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2001-12-31 至 2007-12-31

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项目成果

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Den Schwerpunkt dieses Teilprojektes stellt ein neuartiger Ansatz dar, um mit Hilfe der Ramanspektroskopie bisher nicht zugängliche Informationen über den Massentransport bei der Kristallzüchtung zu erhalten. Dabei soll Quellenmaterial aus hoch angereicherten 13C-Isotopen als Sonde verwendet werden, um dem Kohlenstofftransport im Züchtungsofen nachzugehen. Dieser Transport kann innerhalb des Quellenmaterials stattfinden, zwischen Quellenmaterial und Tiegelwand oder vom Quellenmaterial in den wachsenden SiC-Kristall. Der physikalische Hintergrund beruht auf der Tatsache, dass die Frequenzen der Gitterschwingungen mit zunehmender Atommasse abnehmen, d.h. dass im Ramanspektrum auftretende Linien sich durch den Austausch von 12C durch 13C zu niedrigeren Frequenzen verschieben. Die Herausforderung dieses Projektes ist, für SiC-Kristalle mit einer Mischung von 12C und 13C-Isotopen den genauen Zusammenhang zwischen Mischungsverhältnis und Ramanverschiebung der Moden zu untersuchen. Es geht dabei um Phononen-Selbstenergiekorrekturen aufgrund von Streuung durch Massenunordnung. Für das Studium dieser Korrekturen ist SiC ein ideales Material, da aufgrund seines Polytypismus die Phononendispersionskurven von 3C-SiC in der (111)-Richtung rekonstruiert werden können. Ziel der Untersuchungen ist es, eine quantitativ präzise Methode zur Verfügung zu haben, um dem Massentransport bei der Kristallzucht nachzugehen. Bei der modifizierten PVT-Züchtung, bei der sowohl mit einer Feststoffquelle, als auch mit gasförmigen Quellen gearbeitet wird, ergibt sich so z.B. durch den Einsatz von 13C-haltigem Methan die Möglichkeit, zu differenzieren, wieviel des Kohlenstoffs aus den beiden Quellen stammt.
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高可靠性低损耗 Si IGBT+SiC JFET 串联混合管研究
  • 批准号:
    2026JJ80072
  • 项目类别:
    省市级项目
  • 资助金额:
    --
  • 批准年份:
    2026
  • 负责人:
    曾荣周
  • 依托单位:
空间辐射环境下沟槽型SiC MOSFET器件栅氧长期可靠性研究
  • 批准号:
    2026JJ60454
  • 项目类别:
    省市级项目
  • 资助金额:
    --
  • 批准年份:
    2026
  • 负责人:
    桂庆忠
  • 依托单位:
多芯片SiC并联高铁牵引变流器的软开关与动态均流协同控制研究
基于REO/SiC界面调控的纳米复合强化自洁玻璃技术开发
  • 批准号:
  • 项目类别:
    省市级项目
  • 资助金额:
    --
  • 批准年份:
    2026
  • 负责人:
    黄兴才
  • 依托单位: