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MBE-Wachstum von GaN auf einem stark fehlangepaßten Substrat

MBE-Wachstum von GaN auf einem stark fehlangepaßten Substrat
高度失配衬底上的 GaN 的 MBE 生长
批准号:
5373010
负责人:
Professor Dr. Detlef Hommel
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Priority Programmes
财政年份:
1997
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1996-12-31 至 1999-12-31
关键词:

项目摘要

项目成果

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Ziel des Antrages ist es, das im ersten Antragszeitraum begonnene Forschungsvorhaben fortzusetzen und abzuschließen, d.h. den Wachstumsmechanismus von GaN auf einem stark fehlangepaßten Substrat zu verstehen. Ausgehend von den in den ersten zwei Jahren erzielten Ergebnissen soll zum einen der Raum untersuchter Wachstumsparameter gezielt erweitert werden. Zum anderen wird über die Korrelation gefundener physikalischer Eigenschaften mit der Mikrostruktur der epitaktischen Schichten die Aufstellung eines Wachstumsmodells angestrebt, das insbesondere eventuelle Unterschiede in der Wachstumsdynamik zwischen der Molekularstrahlepitaxie und der metallorganischen Dampfphasenpitaxie erklären soll. Im Vergleich zum Erstantrag sollen während des Fortsetzungszeitraumes auch neue Ansätze verfolgt werden. Dazu zählen insbesondere die Untersuchung der Oberflächendiffusion beim Wachstum auf Pufferschichten und die Suche nach potentiellen Surfactants für die Epitaxie von GaN. Als Analysemethoden werden auch weiterhin die Elektronenbeugung, die atomare Kraftmikroskopie, die Transmissionselektronenmikroskopie, die Röntgendiffraktometrie und die optische Spektroskopie im Mittelpunkt stehen.
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会议论文
Epitaxial Graphene Transistor EPIGRAT
Strong and weak coupling in ZnSe-based monolithic microcavities with lateral confinement
  • 批准号:
    63321440
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2008
  • 负责人:
    Professor Dr. Detlef Hommel
  • 依托单位:
Elektrisch gepumpte Einzel-Photonenquelle auf Halbleiterbasis bei Raumtemperatur
Untersuchung von Verspannungsphänomenen in GaN-Schichten unter Einsatz hochauflösender Röntgendiffraktometrie bei variabler Meßtemperatur
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