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INVESTIGATION OF DAMAGE MECHANISM AND ESTIMATION OF STRENGTH OF CARBON NANOTUBES AS ELECTRONIC MATERIAL UNDER HIGH-DENSITY ELECTRONIC CURRENT

高密度电流作用下碳纳米管电子材料损伤机制研究及强度评估

基本信息

批准号：
21360046
负责人：
SASAGAWA Kazuhiko
金额：
$ 11.65万
依托单位：
Hirosaki University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2009
资助国家：
日本
起止时间：
2009 至 2012
项目状态：
已结题

项目摘要

Carbon nanotubes (CNTs) are expected to be applied to nano-sized electronic materials. A method of acceleration test to intentionally introduce damage to CNTs was developed by supplying high-density electronic current. Performing the test under various atmospheric and loading conditions the damage mechanism of CNT under electronic current was clarified. Furthermore, an evaluation method of strength of CNT was developed considering the damage mechanism. The evaluated results qualitatively agreed with experimental ones, and the strength of CNT under electronic current was successively evaluated.

碳纳米管有望应用于纳米电子材料。开发了一种通过提供高密度电子电流来有意地引入对碳纳米管的损伤的加速测试方法。在不同的大气和载荷条件下进行试验，阐明了电流作用下碳纳米管的损伤机理。在此基础上，提出了一种考虑损伤机理的碳纳米管强度评价方法。评价结果与实验定性一致，并在电子电流下的碳纳米管的强度连续评估。

项目成果

期刊论文数量（0）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Characterization of Films with Thickness Less than 10 nm by Sensitivity-Enhanced Atomic Force Acoustic Microscopy.

DOI：
10.1007/s11671-010-9778-8
发表时间：
2011-12
期刊：
Nanoscale research letters
影响因子：
0
作者：
Muraoka M;Komatsu S
通讯作者：
Komatsu S

Microwave atomic force microscopy imaging for nanometer-scale electrical property characterization.

DOI：
10.1063/1.3525058
发表时间：
2010-12
期刊：
The Review of scientific instruments
影响因子：
0
作者：
Lan Zhang;Y. Ju;A. Hosoi;A. Fujimoto
通讯作者：
Lan Zhang;Y. Ju;A. Hosoi;A. Fujimoto

リザーバ構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷の数値シミュレーションによるしきい電流密度の評価

水库结构布线电迁移损伤数值模拟评估阈值电流密度

DOI：
发表时间：
2012
期刊：
第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
影响因子：
0
作者：
笹川和彦;柳　貴裕;鵜沼　潤
通讯作者：
鵜沼　潤

Formation of Helical Nanostructures by Film Deposition on Straight Nanowire

通过在直纳米线上沉积薄膜形成螺旋纳米结构

DOI：
发表时间：
2009
期刊：
Proceedings of ASMP2009 (CD-ROM)
影响因子：
0
作者：
M.Muraoka;T.Adachi
通讯作者：
T.Adachi

高密度電流下におけるカーボンナノチューブ損傷に対する雰囲気環境の影響

高密度电流下大气环境对碳纳米管损伤的影响

DOI：
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
0
作者：
笹川和彦;阿保雄大;鵜沼潤
通讯作者：
鵜沼潤

DOI：
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作者：
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DOI：
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0
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通讯作者：
MORIWAKI Takeshi

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通讯作者：
漆山　凌・松岡　篤

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0
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通讯作者：
川尻啄真・伊藤　剛・松岡　篤