IDENTIFICATION OF GOVERNING PARAMETER AND RELIABILITY EVALUATION FOR CARBON-NANOTUBE DAMAGE UNDER HI-DENSITY ELECTRONIC CURRENT
IDENTIFICATION OF GOVERNING PARAMETER AND RELIABILITY EVALUATION FOR CARBON-NANOTUBE DAMAGE UNDER HI-DENSITY ELECTRONIC CURRENT
批准号:
25420002
负责人:
SASAGAWA Kazuhiko
金额:
$3.33万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2016-03-31
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電子デバイス配線CNTの強度信頼性評価法の構築
电子器件布线碳纳米管强度可靠性评价方法的构建
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[石橋正晃, 藤本岳洋, 松山靖典, 中川智貴,細井厚志,巨陽, 笹川 和彦]
通讯作者:
笹川 和彦
Numerical Analysis of Allowable Current Density for Electromigration of Interconnect Tree Structure with Reservoir
带储层互连树结构电迁移允许电流密度的数值分析
DOI:
10.1115/ipack2015-48744
发表时间:
2015
期刊:
Proceedings of ASME InterPACK/ICNMM2015
影响因子:
--
作者:
[K. Fujisaki, H. Narita, K. Sasagawa]
通讯作者:
K. Sasagawa
Damage of CNT Network Structure under Accelerated Condition
加速条件下碳纳米管网络结构的破坏
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[S. Sato, K. Fujisaki, K. Sasagawa, T. Katabira]
通讯作者:
T. Katabira
CNTネットワーク構造を有する配線の高密度電流下における損傷
高密度电流下CNT网络结构布线损坏
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[石川貴大, 小椋隆寛, 藤本岳洋, 藤崎和弘,成田大輝,笹川和彦]
通讯作者:
藤崎和弘,成田大輝,笹川和彦
マイクロ波原子間力顕微鏡を用いた金属ナノワイヤの導電率の定量評価に関する研究
微波原子力显微镜定量评价金属纳米线电导率的研究
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
--
作者:
[近藤俊之, 今岡貴裕, 平方寛之, 﨑原雅之, 箕島弘二, Nobuaki Komatsubara and Etsuji Ohmura, 森 崇充, 中島 隆博,細井 厚志,巨 陽]
通讯作者:
中島 隆博,細井 厚志,巨 陽
共 22 条
Investigation of damage mechanism of metal nanoparticle interconnect used in flexible electronic circuits under electrical and mechanical loadings
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批准号:19K04084
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.75万
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财政年份:2019
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负责人:SASAGAWA Kazuhiko
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依托单位:
ENHANCEMENT OF SPATIAL RESOLUTION OF THIN AND FLEXIBLE TACTILE SENSOR AND HIGH FUNCTIONALIZATION OF TOUCH PANEL
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批准号:16K12946
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额:$2.25万
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财政年份:2016
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负责人:SASAGAWA Kazuhiko
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依托单位:
DEVELOPMENT OF HAPTIC DISPLAY ATTACHABLE TO HUMAN SKIN USING FABRIC ACTUATOR
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批准号:23650344
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额:$2.33万
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财政年份:2011
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负责人:SASAGAWA Kazuhiko
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依托单位:
INVESTIGATION OF DAMAGE MECHANISM AND ESTIMATION OF STRENGTH OF CARBON NANOTUBES AS ELECTRONIC MATERIAL UNDER HIGH-DENSITY ELECTRONIC CURRENT
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批准号:21360046
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$11.65万
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财政年份:2009
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负责人:SASAGAWA Kazuhiko
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依托单位:
Evaluation Method for Metal Line Failure Induced by High Current Density in Order to Ensure ULSI Reliability
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批准号:15560058
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.11万
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财政年份:2003
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负责人:SASAGAWA Kazuhiko
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依托单位:
Development of Prediction Method for Metal Line Failure Induced by High Current Density
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批准号:11555024
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
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资助金额:$3.71万
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财政年份:1999
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负责人:SASAGAWA Kazuhiko
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依托单位:
海外基金