高品質シリコン薄膜の形成・新規評価技術の確立とそのディスプレイデバイスへの応用
高品質シリコン薄膜の形成・新規評価技術の確立とそのディスプレイデバイスへの応用
批准号:
10J08975
负责人:
町田 絵美
金额:
$1.34万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2010
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2010 至 2012
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平成24年度は,低温での高品質多結晶シリコン薄膜トランジスタの作製に主眼を置き,「水中レーザーアニール」による多結晶シリコン薄膜の低温結晶化検討を行った.薄膜トランジスタのチャネル材料には様々なものがあるが,中でも多結晶シリコン薄膜は他種材料と比べて格段に高い移動度(酸化物半導体の10~100倍)と優れた信頼性をもつ.その一方で作製温度が最高500℃程度と高いことから,プラスチック基板上への作製が行えない.この技術課題を解決できれば,プラスチック基板上へ高画質・多機能ディスプレイを作製することが可能となる.多結晶シリコン薄膜トランジスタの作製プロセスにおいて,結晶化・ドーパント活性化・欠陥不活性化の3プロセスは非常に高温の熱処理工程であり,基板温度は300~500℃にもなる.本研究では,「水中レーザーアニール」という熱処理プロセスを提案する.本手法は,流水中に試料を設置した状態で試料上面からレーザー光照射を行うものである.そこで本年度は,多結晶シリコン薄膜トランジスタの作製温度をプラスチックのガラス転移温度(約150℃)以下に低温化し,水中レーザーアニールを多結晶シリコン薄膜トランジスタ作製技術へ導入することを可能とすることを目的とした.上記検討の結果,図1に示すように,水中レーザーアニールにより結晶化した多結晶シリコン薄膜を用いてトランジスタを作製し,素子駆動に成功した.これらの結果は国内学会1件および国際学会3件にて発表し,高い反響を得ることができた.また,これらの成果を学術論文2報にまとめた.
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水中レーザーアニールによるプラスチック基板上多結晶シリコン薄膜形成
水下激光退火在塑料基板上形成多晶硅薄膜
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Emi Machida, et. al., Emi Machida, Emi Machida, 町田絵美]
通讯作者:
町田絵美
Crystallization to Polycrystalline Silicon Thin Film and Simultaneous Inactivation of Electrical Defects by Underwater Laser Annealing
水下激光退火结晶成多晶硅薄膜并同时钝化电缺陷
DOI:
10.1063/1.4772513
发表时间:
2012
期刊:
Applied Physics Letters
影响因子:
4
作者:
[Emi Machida, et. al.]
通讯作者:
et. al.
Local Characterization of Defect Sites at Grain and Grain Boundary of Polycrystalline Silicon Thin Films
多晶硅薄膜晶粒及晶界缺陷位点的局部表征
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Emi Machida, et. al., Emi Machida, Emi Machida]
通讯作者:
Emi Machida
Impact of Underwater Laser Annealing on Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors for Inactivation of Electrical Defects
水下激光退火对多晶硅薄膜晶体管电缺陷钝化的影响
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Emi Machida, et. al., Emi Machida, Emi Machida, 町田絵美, Emi Machida, 町田絵美, Emi Machida, Emi Machida, 青木麻野, 町田絵美, Emi Machida]
通讯作者:
Emi Machida
Impact of Underwater Laser Annealing on Polycrystalline Silicon Thin Film Transistor for Inactivation of Electrical Defects at Super Low-Temperature
水下激光退火对多晶硅薄膜晶体管超低温电缺陷钝化的影响
DOI:
10.1109/jdt.2012.2236883
发表时间:
2013
期刊:
IEEE/OSA Journal of Display Technology
影响因子:
--
作者:
[Emi Machida, et al.]
通讯作者:
et al.
共 13 条
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