Development of nanometer-resolution XAFS imaging method and structural evaluation of nanostructured materials

纳米分辨率XAFS成像方法的发展和纳米结构材料的结构评估

• 批准号: 22651040
• 负责人: TAKAHASHI Yukio
• 金额: $ 1.96万
• 依托单位: Osaka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22651040/
• 关键词: コヒーレントX線光学; X線顕微鏡; X線構造解析; 金属ナノ組織解析

In principle, X-ray absorption spectrum at the nanometer scale can be derived from the coherent X-ray diffraction imaging at the X-ray energies around the X-ray absorption edge of a specific element. In such an experiment, the dose per surface unit of X-rays illuminated onto a sample has to be determined. In this study, incident X-ray intensity monitoring system for coherent X-ray diffraction imaging was developed. By using this system, we determined the dose of X-rays illuminated onto a nanostructured sample and quantitatively derived the electron density distribution of the sample.

原则上，纳米尺度的x射线吸收光谱可以由特定元素x射线吸收边缘附近x射线能量的相干x射线衍射成像得到。在这样的实验中，必须确定照射到样品上的x射线每单位表面的剂量。本文研制了相干x射线衍射成像的入射x射线强度监测系统。通过使用该系统，我们确定了照射到纳米结构样品上的x射线剂量，并定量推导了样品的电子密度分布。

项目成果

KBミラー集光X線を用いた高分解能走査型回折顕微法の開発

使用KB镜聚焦X射线开发高分辨率扫描衍射显微镜

• 发表时间: 2011
• 作者: 鈴木明大;高橋幸生;堤良輔;西野吉則;松原英一郎;山内和人;石川哲也
• 通讯作者: 石川哲也

Development of high-resolution X-ray diffraction microscopy using Kirkpatrick and Baez mirrors

使用柯克帕特里克和贝兹镜开发高分辨率 X 射线衍射显微镜

• 发表时间: 2010
• 作者: R.Tsutsumi;Y.Takahashi;N.Zettsu;A.Suzuki;Y.Nishino;E.Matsubara;T.Ishikawa;K.Yamauchi
• 通讯作者: K.Yamauchi

Development of coherent x-ray diffraction microscopy and its application in materials science

相干X射线衍射显微镜的发展及其在材料科学中的应用

• 发表时间: 2010
• 作者: 大野貴弘;幡場喬二;長谷川佳;高口洋人;Y.Takahashi
• 通讯作者: Y.Takahashi

高分解能X線タイコグラフィーの開発と元素識別イメージング

高分辨率X射线叠层成像和元素识别成像的发展

• 发表时间: 2012
• 作者: 鈴木明大;高橋幸生;是津信行;香村芳樹;仙波泰得;大橋治彦;山内和人;石川哲也
• 通讯作者: 石川哲也

高分解能コヒーレントX線回折顕微法の現状と将来展望

高分辨率相干X射线衍射显微镜的现状与未来展望

• 发表时间: 2012
• 作者: 鈴木明大;高橋幸生;是津信行;香村芳樹;仙波泰得;大橋治彦;山内和人;石川哲也;五十嵐豪,堀口直也,丸山一平;高橋幸生
• 通讯作者: 高橋幸生