Studies on Reliability Enhancement of Circuits Programmed on FPGAs
Studies on Reliability Enhancement of Circuits Programmed on FPGAs
FPGA编程电路可靠性增强研究
批准号：
26330067
负责人：
Ohtake Satoshi
金额：
$3.08万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2018-03-31
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A field test architecture for circuits configured on FPGAs
FPGA 上配置的电路的现场测试架构
FPGA 上配置的电路的现场测试架构
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[佐脇光亮, 大竹哲史, 南薗隼人，大竹哲史, Sho Kano and Satoshi Ohtake]
通讯作者：
Sho Kano and Satoshi Ohtake
遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成
用于延迟故障 BIST 的 LFSR/MISR 种子生成
用于延迟故障 BIST 的 LFSR/MISR 种子生成
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
電子情報通信学会技術報告
影响因子：
--
作者：
[嶋津大地, 大竹哲史]
通讯作者：
大竹哲史
FPGAテストのための耐ソフトエラーBIST
用于 FPGA 测试的软容错 BIST
用于 FPGA 测试的软容错 BIST
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
電子情報通信学会技術報告
影响因子：
--
作者：
[上田大樹, 嶋津大地, 大竹哲史]
通讯作者：
大竹哲史
A method of diagnostic test generation for transition faults
一种转换故障诊断测试生成方法
一种转换故障诊断测试生成方法
DOI：
10.1109/prdc.2015.47
发表时间：
2015
期刊：
Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing 2015
影响因子：
--
作者：
[Xiantao Jiang, Tian Song, Takashi Shimamoto and Lisheng Wang, 渡邊恭之介，大竹哲史, Daichi Shimazu and Satoshi Ohtake, Syuichi Sato and Satoshi Ohtake, Renji Ono and Satoshi Ohtake]
通讯作者：
Renji Ono and Satoshi Ohtake
A method of one-pass seed generation for LFSR-based deterministic/pseudo-random testing of static faults
一种基于 LFSR 的静态故障确定性/伪随机测试的一次性种子生成方法
一种基于 LFSR 的静态故障确定性/伪随机测试的一次性种子生成方法
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
Proceedings of IEEE Latin American Test Symposium
影响因子：
--
作者：
[上田大樹, 嶋津大地, 大竹哲史, Takanori Moriyasu and Satoshi Ohtake]
通讯作者：
Takanori Moriyasu and Satoshi Ohtake
共 12 条
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