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Elucidation of fine polishing mechanism by measuring interfacial potential during chemical mechanical polishing

Elucidation of fine polishing mechanism by measuring interfacial potential during chemical mechanical polishing
通过测量化学机械抛光过程中的界面电位来阐明精细抛光机制
批准号:
16K06009
负责人:
SUDA Seiichi
金额:
$3.0万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2016
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2016-04-01 至 2019-03-31

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