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Design for testability and build-in self-test of high-speed integrated circuits

Design for testability and build-in self-test of high-speed integrated circuits
高速集成电路的可测试性和内置自测试设计
批准号:
43826-1996
负责人:
Ivanov, André
金额:
$1.9万
依托单位国家:
加拿大
项目类别:
Discovery Grants Program - Individual
财政年份:
1997
资助国家:
加拿大
项目状态:
已结题
起止时间:
1997-01-01 至 1998-12-31

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Mitigating transistor aging in planar and 3D MOSFET integrated circuits
  • 批准号:
    462849-2014
  • 项目类别:
    Engage Grants Program
  • 资助金额:
    $1.82万
  • 财政年份:
    2014
  • 负责人:
    Ivanov, André
  • 依托单位:
Novel algorithms for the placement of spare cells and routing structures into integrated circuits
  • 批准号:
    477391-2014
  • 项目类别:
    Engage Grants Program
  • 资助金额:
    $1.82万
  • 财政年份:
    2014
  • 负责人:
    Ivanov, André
  • 依托单位:
Design for test and reliability of integrated nanoscale devices and systems
  • 批准号:
    43826-2009
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额:
    $2.62万
  • 财政年份:
    2013
  • 负责人:
    Ivanov, André
  • 依托单位:
Design for test and reliability of integrated nanoscale devices and systems
  • 批准号:
    43826-2009
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额:
    $2.62万
  • 财政年份:
    2012
  • 负责人:
    Ivanov, André
  • 依托单位:
海外基金